X선 회절(XRD)

DIFFRAC.LEPTOS

LEPTOS는 X선 반사율(XRR), 고해상도 X선 회절(HRXRD), 방목 발생 소각 X선 산란(GISAXS), 잔류 응력(RS) 데이터의 평가를 위한 포괄적인 소프트웨어 제품군입니다.

하이라이트

모든 기능을 갖춘 재료연구 소프트웨어 패키지

X선 반사율(XRR)은 수직 샘플 밀도 프로파일, 층 두께 및 인터페이스 거칠기에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 고해상도 X선 회절(HRXRD)은 시료의 결정구조를 측정합니다. 방목 발생 소각 산란 (GISAXS)은 나노 입자 및 다공성 평가를 위해 사용됩니다. 잔류 응력 분석은 벌크 샘플 및 다결정 코팅의 균주 상태를 조사합니다.

LEPTOS는 기존의 단일 커브 스캔과 함께 고해상도 HRXRD 및 XRR 상호 공간 맵, GISAXS 및 XRD² 응력 프레임, HRXRD, XRR 및 잔류 응력 애플리케이션을 위한 영역 매핑을 분석할 수 있습니다. 데이터가 0-D, 1-D 또는 2D 검출기로 수집되었는지 여부는 중요하지 않습니다.
GUI는 과학 연구자와 산업 운영자 모두의 요구 사항을 수용하기 위해 사용자 정의 할 수 있습니다.

  • 다중 XRR, HRXRD, GISAXS 및 RS 측정의 공동 평가
  • 직접 및 상호 공간에서 데이터의 추정, 시뮬레이션 및 피팅을 위한 고급 X선 산란 이론 및 수치 방법
  • 포인트, 라인 및 2차원 검출기로 측정된 1차원 및 2차원 데이터 세트의 자연통합 처리
  • 모든 유형의 박막 및 벌크 샘플 매개변수화를 위한 범용 샘플 모델 편집기
  • 모든 230개의 결정 공간 그룹을 포괄하는 포괄적이고 확장 가능한 재료 데이터베이스
  • 대형 샘플 영역에서 수행되는 측정의 표시 및 평가를 위한 영역 매핑 도구
  • 1-D 및 2차원 데이터의 잔류 응력 분석을 위한 고급 sin²ψ 방법뿐만 아니라 다결정 코팅의 응력 그라데이션을 평가하는 다중(hkl) 방법

특징

DIFFRAC.LEPTOS 모듈

LEPTOS R

LEPTOS R 분산 산란 막대와 흔들 곡선을 사용하면 별도의 곡선과 횡방향 및 세로 스캔의 조합에서 여러 곡선의 일관된 세트로 장착할 수 있습니다.

LEPTOS R은 얇은 계층 구조에서 X선 반사도(XRR) 데이터와 오프 스페큘러 확산 분산 산란(DS)을 분석하기 위해 설계되었습니다. 이 모듈은 HRXRD, GISAXS 및 XRR 데이터의 동시 분석을 통합하는 LEPTOS 제품군에 완전히 통합되어 있습니다. LEPTOS 제품군의 일부로 R 모듈은 전체 패키지에 공통된 모든 기능을 상속합니다.

LEPTOS R은 VAMAS 프로젝트 A10을 포함한 여러 국제 벤치마크에서 높은 평가를 받았습니다. LEPTOS R의 구조는 XRR 데이터의 데이터 형식에 대한 새로 개발된 국제 rfCIF 표준을 준수합니다.

LEPTOS H

LEPTOS H에는 넓은 샘플 영역에서 포인트별로 가져온 HR-XRD 데이터를 처리하고 샘플 매개 변수의 매핑을 표시할 수 있는 영역 매핑 모듈이 포함되어 있습니다.

LEPTOS H는 고해상도 X선 회절 및 방목 발생 X선 회절 데이터 분석을 의미합니다.

이 모듈은 HRXRD, GISAXS 및 XRR 데이터의 동시 분석을 통합하는 LEPTOS 제품군에 완전히 통합되어 있습니다. LEPTOS 제품군의 일부로 H 모듈은 전체 패키지에 공통된 모든 기능을 상속합니다.

LEPTOS S

잔류 응력 그라데이션은 다양한 방목 시점 각도에서 측정된 여러 {hkl}에서 계산할 수 있습니다. X선의 흡수 및 굴절뿐만 아니라 코팅 두께는 계산을 고려합니다.

LEPTOS S는 고전적인 sin2θ 및 확장된 XRD2 방법을 사용하여 0D, 1D 또는 2D 검출기로 측정된 잔류 응력 분석을 위한 혁신적이고 강력하고 포괄적인 모듈입니다. 이 모듈은 LEPTOS 제품군에 완전히 통합되어 전체 패키지에 공통된 모든 기능을 상속합니다.

LEPTOS G

LEPTOS G를 사용하면 2D 데이터를 적합한 1D 데이터 집합에 통합하고 실험실과 상호 공간 좌표 간에 2D 데이터를 변환할 수 있습니다.

LEPTOS G는 지하 영역 내에 내장된 나노스케일 입자를 포함하는 샘플에서 측정하거나 시료 표면에 위치한 방목 발생 소각 산란 데이터를 평가합니다. 이들은 예를 들어, 매장 또는 표면 반도체 양자점 및 섬, 다공성 재료, 응축 분말, 폴리머 나노 입자 등에 내장 된 등이 될 수 있습니다. 모듈 G용 라이센스에는 X선 반사도에 대한 R 모듈도 포함됩니다.

사양

DIFFRAC.LEPTOS 사양

버전 현재 소프트웨어 버전은 V7.10.12입니다.

분석 방법

역동적인 파라트의 형식주의

얼굴 간 거칠기 모델의 다양성

X선 산란 매개변수 계산을 위한 연산자 방법

특허받은 EigenWaves(MEW)

빠른 2x2 및 정확한 4x4 재귀 매트릭스 형식주의

클래식 및 확장된 sin2θ뿐만 아니라 XRD2 방법

여러 {hkl}의 잔류 응력 평가}

얇은 다결정 코팅의 응력/변형 그라데이션

운영 체제

Window 8 과 10 (32 비트 또는 64 비트)