X플래시 6-10
최고의 해상도 SDD
XFlash 6-10 검출기
이 최신 세대 X 선 검출기의 핵심 조각은 드리프트 챔버 원리에 따라 작동하는 실리콘 칩입니다.
통합 전하 증폭기가 있는 특수 칩 설계로 인해 XFlash® 매우 높은 수량 속도를 처리할 수 있으며 동시에 다른 실리콘 기반 에너지 분산 X선 검출기에 타의 추종을 불허하는 우수한 에너지 해상도를 표시할 수 있습니다.
요약하면 XFlash® 6-10은 다음과 같은 장점을 제공합니다.
- 뛰어난 에너지 해상도(Mn Kα121 eV한정판, CKα38eV, FKα 47eV 사용 가능)
- 기타 사용 가능한 해상도는 Mn Kα에서 123, 126 및 129 eV입니다.
- 매우 높은 펄스 부하 기능
- 우수한 광원 요소 및 낮은 에너지 성능 (Be - Am 요소 범위)
- 정교한 진동 발생 냉각 시스템 없음
- 전원 켜기 직후 사용 가능
- 낮은 운영 비용
- 유지보수 가 없는 작동
- 슬림 라인 기술 손가락을 포함한 작은 치수
- 저중량
XFlash® 6-10에 대한 응용 프로그램의 권장 영역은 다음과 같습니다.
- SEM, 마이크로 프로브, FIB-SEM용 EDS 시스템(옵션으로 제공되는 용접 벨로우즈)
- 광 원소 및 저에너지 범위 분석