XFlash 6-10
最佳分辨率 SDD
XFlash 6-10 探测器
最新一代X射线探测器的核心是基于飘逸仓原理工作的硅芯片。
由于芯片集成电荷放大器的特殊设计，XFlash ® 可处理非常高的计数率，同时显示出色的能量分辨率。这是任何其它硅基能量色散 X 射线探测器所无法比拟的。
总结起来，XFlash® 6-10 具有以下优点：
- 出色的能量分辨率（限量版，Mn Kα 121 eV，C Kα 38 eV，F Kα 47 eV）
- 其他可用分辨率为 Mn Kα 的 123、126 和 129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能（Be - Am 元素范围）
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
XFlash® 6-10建议的应用领域包括：
- 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选件提供）
- 轻元素和低能端分析