ESPRIT LiveMap을 이용한 Al-Si 합금 내 Sn–Cu 솔더 영역의 실시간 화학 매핑
브루커의 XFlash® 7 EDS 검출기는 넓은 고체각과 고성능 펄스 처리 기능을 통해 ESPRIT LiveMap을 이용한 실시간 화학 매핑을 가능하게 하며, 최대 1000kcps의 출력 카운트 속도를 제공합니다.
ESPRIT LiveMap은 금속간 화합물, 오염, 계면 영역, 미량 원소 등의 위치 파악과 같이 ROI 식별이 필요한 다양한 응용 분야에 활용될 수 있습니다. 원소 자동 식별 및 중첩 피크의 온라인 디콘볼루션과 같은 기능이 ESPRIT LiveMap에 통합되어 있습니다.
이 예시는 과도 액상(TLP) 접합된 Sn-Cu 중간층 또는 브레이징 이음매가 있는 Al-Si 합금의 실시간 EDS 화학 매핑을 보여줍니다. 서로 다른 층의 미세구조 복잡한 분포를 확인할 수 있습니다. 상층은 Al-Si 합금이고 하층은 Sn-Cu 브레이징 이음부 영역입니다. Cr 오염은 자동으로 식별되어 매핑 데이터에 추가되었습니다. 이 예시는 ESPRIT LiveMap을 사용하여 Cu-Sn 브레이징 이음부 내 오염을 위치 파악하는 방법을 보여줍니다.
ESPRIT LiveMap 기능:
최대 1000 kcps의 높은 출력 카운트 레이트를 통한 실시간 화학 매핑
시료 표면 조성의 자동 실시간 화학 식별
매핑 오브젝트를 이용한 국소적 특징의 스펙트럼 추출
미량 원소 실시간 식별 (단일 픽셀 농축)
검출된 원소의 실시간 업데이트 (수동 또는 자동)
ESPRIT LiveMap용 사용자 정의 해상도 및 기존 매핑으로의 간편한 전환