토양의 오염 물질과 독소 식별
SEM-XRF를 사용하는 대면적 매핑(하이퍼맵)은 지형이 있는 샘플에서 수행할 수 있습니다. 즉, 최소한의 샘플 준비가 필요하며 샘플은 탈거 없이 직접 분석할 수 있습니다. 이는 특히 토양 분석과 관련이 있으며, 장착 및 연마 또는 탄소 코팅과 같은 모든 형태의 시료 제제가 시편을 변경할 수 있습니다. 마이크로-XRF는 도 1에 도시된 바와 같이 토양 샘플을 직접 분석할 수 있다. 여기에는 주요 원소뿐만 아니라 오염 물질 이나 독소를 통합할 수 있는 미량 원소 또는 미량 미네랄 상도 포함됩니다(그림 2 참조). 이 예에서는 Pb 및 As 오염 물질을 포함하는 곡물이 식별됩니다.
도 1: 토양의 대면적 X선 맵(120mm x 30mm)(분석 파라미터: 50kV의 튜브 전압 Rh: 양극 전류 600 μA, 픽셀 간격 25 μm). 왼쪽에서 오른쪽으로 맨 위 행: 네 개의 토양 샘플의 총 X선 강도 맵(BSE 이미지, 회색과 유사). 왼쪽에서 오른쪽으로 두 번째 행: K(보라색) 및 Ca(노란색). 왼쪽에서 오른쪽으로 세 번째 행: Ti(주황색) 및 Mn(파란색). 왼쪽에서 오른쪽으로 맨 아래 줄: Fe(빨간색) 및 F1(회색).
도 2: 샘플 4에서 Pb(오른쪽)의 존재를 확인하는 토양 시료의 분석. 하단 이미지는 샘플에서 Pb 및 As의 식별을 확인하는 샘플의 스펙트럼을 보여 준다.