土壌中の汚染物質と毒素の同定
SEM-XRF を使用した広域マッピング （ハイパーマップ）は、形状像と観察されます。つまり、最小限のサンプル調製のみで、サンプルは劣化することなく直接分析することができます。これは、土壌の分析において、サンプルの状態を変えてしまうかもしれない取り付けや研磨、またはカーボンコーティングなどのあらゆるサンプル調製に関連します。μXRFは、図1に示すように土壌サンプルを直接分析することができます。これには、主要な元素だけでなく、汚染物質や毒素が混ざった微量元素や微量鉱物相も含まれます（図2参照）。この例では、PbおよびAs汚染物質を含むグレインが識別されました。
図1：土壌の大面積X線マップ（120mm x 30mm）（分析パラメータ：50kVでの管電圧Rh、アノード電流 600μA、ピクセル間隔 25μm)。上段の左から右へ：4つの土壌サンプルの合計X線強度マップ（BSE像と同様、灰色）。2行目の左から右：K (紫) と Ca (黄色)。3列目の左から右：Ti(オレンジ)とMn(青)。下段の左から右:：Fe (赤) と F1 (グレー)。
図2：サンプル4にPb(右)の存在を確認する土壌試料の分析。下の画像は、サンプル中のPbとAsの存在を確認するサンプルからのスペクトルを示しています。