AFM Modes

Contact Mode

지형 이미징과 고급 기술에 대한 게이트웨이를 제공하는 최초의 AFM 모드

Contact Mode는 프로브 팁이 샘플 표면과 일정한 물리적 접촉에 있는 모든 AFM 기술의 기초입니다. 팁이 표면을 따라 스캔하는 동안 샘플 지형은 캔틸레버의 수직 편향을 유도합니다. 피드백 루프는 미리 설정된 부하 력에서 이 편향을 유지하고 피드백 응답을 사용하여 지형 이미지를 생성합니다.

Contact Mode는 재료 과학, 생물학적 응용 프로그램 및 기본 연구에 적합합니다. 또한 직접 팁 샘플 접촉을 필요로 하는 추가 SPM 기술의 기초역할을 합니다.

일반적인 67nm 밴딩 패턴을 나타내는 네이티브 콜라겐 피브릴.