AFM 모드

자기힘 현미경 검사법 (MFM)

자기 및 지형 특성을 동시에 이미지화

나노미터 척도에서 자기력에 대한 연구는 오랫동안 자기 기록 재료, 초전도체 및 자기 나노 입자의 조사자에게 관심을 가지고 있습니다. 자기력 현미경검사(MFM)는 TappingMode에서 파생된 이차 이미징 모드로™ 지형 데이터를 동시에 획득하면서 시표면 위에 자기력 그라데이션을 매핑합니다.

MFM은 특허받은 2패스 기법인 리프트모드(LiftMode)™ 의존합니다. 시스템은 샘플 표면과 샘플 표면 위의 지정된 리프트 높이에서 라인을 번갈아 스캔하여 지형과 자기력을 각각 별도로 측정합니다.

MFM은 자연적으로 발생하는 도메인 구조와 의도적으로 작성된 도메인 구조를 자기 재료로 이미지화하는 데 사용할 수 있습니다.

강철 샘플의 자기 도메인입니다.