나노 기계 테스트

고해상도 인 시투 SPM 이미징

우수한 나노 기계적 테스트 결과

브루커는 고해상도 SPM 이미징과 나노 기계적 및 nanotribological 특성화를 직접 결합하는 인-시투 스캐닝 프로브 현미경 검사(SPM) 이미징의 선구자입니다. 현장 SPM 기술은 동일한 프로브를 사용하여 테스트를 수행하는 데 사용되는 샘플 표면을 이미지화하여 테스트 위치를 떠나지 않고 현장에서 이미지를 빠르게 수집할 수 있도록 합니다. Bruker의 현장 내 SPM 이미징은 AFM을 병렬로 운영하는 것과 같은 전 현장 이미징 방법을 병렬로 작동하기 때문에 본질적으로 정확도, 반복성 및 테스트 속도를 증가시키고 샘플을 다른 이미징 위치로 이동하는 데 추가 시간이 필요하며 원하는 테스트 사이트에서 신뢰할 수 있는 위치 지정과 관련된 중요한 과제를 제시합니다.

10 μm 스캔 크기, 1024 x 1024 해상도, 운석 샘플의 지형 이미지.
수직 및 수평 축의 스캔 크기와 해상도는 독립적으로 변경할 수 있습니다: 30 μm x 30 μm 스캔 크기, 256 x 256 해상도(상단); 및 60 μm x 30 μm 스캔 크기, 512 x 256 해상도 (바닥).

나노미터 정밀 테스트 배치 정확도

Bruker의 현장에서 SPM 이미징은 테스트와 동일한 길이 의 이미징 해상도를 제공하여 나노 스케일에서 진정으로 정량적이고 정확한 특성화를 가능하게 합니다. 테스트 현장의 사전 테스트 SPM 이미징은 나노미터 해상도로 표면 형태학(예: 미세 구조, 지형, 거칠기)을 직접 측정할 수 있으며 테스트 전에 표면 결함을 방지하는 데 매우 중요합니다. 고정밀 ± 10nm 테스트 위치 정확도는 다상 재료의 테스트를 간소화하고 기계적 특성에 대한 미세 구조(예: 모양, 크기 또는 분포)의 직접적인 상관관계를 허용합니다. 또한, 테스트 후 SPM 이미징은 물질 변형 거동(예: 골절, 더미 업)의 정량적 특성화 및 시험 배치검증을 제공합니다.

최대 4096 x 4096 해상도

브루커의 SPM+는 나노 기계식 SPM 이미징 기능을 완전히 새로운 차원으로 제공합니다. SPM+를 사용하면 특정 샘플 분석 요구 사항을 충족하도록 스캔 크기와 이미지 해상도를 완전히 사용자 정의할 수 있습니다.