纳米机械测试

高分辨率现场 SPM 成像

卓越的纳米机械测试结果

布鲁克是原位扫描探针显微镜 (SPM) 成像的先驱,它直接将纳米力学和纳米摩擦学特性与高分辨率 SPM 成像进行连接。原位 SPM 技术使用与用于进行测试相同的探头对样品表面进行成像,从而在不离开测试位置的情况下快速采集图像。布鲁克的原位 SPM 成像本身可提高测试的准确性、可重复性和速度,因为原位成像方法(如并行操作 AFM)需要额外时间将样品移动到另一个成像位置,并且与在所需测试现场进行可靠定位相关的重大挑战。

10 μm 扫描大小,1024 x 1024 分辨率,陨石样品的地形图像。
垂直轴和水平轴的扫描大小和分辨率可以独立更改:30 μm x 30 μm 扫描尺寸,256 x 256 分辨率(顶部);和 60 μm x 30 μm 扫描尺寸,512 x 256 分辨率(底部)。

纳米精密测试放置精度

布鲁克的原位 SPM 成像可提供与测试相同的长度刻度的成像分辨率,从而在纳米尺度上实现真正定量和准确的表征。测试现场的预测试 SPM 成像可实现以纳米分辨率直接测量表面形态(例如微结构、地形、粗糙度),对于在测试前避免表面缺陷至关重要。高精度 ±10nm 测试位置精度简化了多相材料的测试,并允许微结构(如形状、尺寸或域分布)与机械性能直接相关。此外,测试后 SPM 成像提供材料变形行为(如断裂、堆积)的定量特征和测试位置的验证。

分辨率高达 4096 x 4096

布鲁克的 SPM® 将纳米机械 SPM 成像功能更上一层楼。借助 SPM+,扫描尺寸和图像分辨率完全可定制,以满足您的特定样本分析需求。