나노 기계 테스트

x프로브

AFM 해상도를 갖춘 정량적 강성 프로브 나노 핀들여트

초고해상도, 강성 프로브 나노들여쓰기

브루커의 xProbe는 Hysitron 계측기의 특성화 기능을 Angstrom 수준으로 확장하는 MEMS 기반 트랜스듀서입니다. 최신 MEMS 제조 기술과 결합된 정전기 작동 및 정전용량 감지에 대한 Bruker의 전문 지식을 사용하여 설계된 xProbe는 AM의 특징인 부하 및 변위 노이즈 및 감도 수준을 달성합니다. xProbe의 높은 축 강성은 기계적 대역폭을 증가시켜 피드백 응답 시간을 크게 개선하고 높은 변형률 테스트를 가능하게 합니다. 브루커의 xProbe는 정량적, 경질 프로브 나노 핀덴티션 및 nanotribological 테스트의 새로운 표준을 설정합니다.

xProbe 고정밀 나노 기계적 테스트를 위한 것입니다.

나노 스케일의 바닥에 정량적 결과

Bruker의 xProbe는 일반적으로 캔틸레버 기반 측정 시스템과 관련된 <2nN 힘과 <20pm 변위 소음 바닥을 제공합니다. xProbe는 나노 스케일의 하단에 신뢰할 수 있는 특성을 제공하기 위해 실제 힘 또는 변위 피드백 제어하에서 작동하는 견고한 들여쓰기 프로브를 활용합니다. 또한, 견고한 프로브 설계를 통해 프로브 접근/후퇴 시 접촉 안팎으로 스냅되지 않고 정확한 힘 감지를 가능하게 합니다.