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X선 회절(XRD)과 산란

물질 속성에 대한 비파괴적 특성

Bruker X 회절 산란 포트폴리오는 기초 연구, 산업 품질 제어 모든 물질에 대해 상세한 분석을 지원하여 오늘 날의 고객들에게 미래지향적 가치에 대한 솔루션을 제공합니다.
이러한 정성적 기법과 정량적 기법의 적용의 포함사항:

  • 상 분석
  • 정량 분석
  • 결정 구조 규명
  • PDF 분석 (전산란)
  • 소각 X선 산란 (SAXS)
  • X선 반사율 (XRR)
  • 고해상도 X선 회절 (HRXRD)
  • 역 격자 공간 맵핑 (RSM)
  • 잔류 응력 측정
  • Texture 측정(극점도 분석)

 

더 자세한 정보를 원하시면, 아래 링크를 통해 받아보실 수 있습니다.
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