活动简介
尊敬的各位同仁：
X4 Poseidon 是布鲁克最新推出的高性能台式X射线显微镜，结合双探测器系统与GEM Plus™智能几何优化技术，实现≤2 µm真实空间分辨率与4D成像兼得。具备灵活的模块升级能力、更高的自动化水平以及标准化的分辨率验证，是科研与工业无损检测的理想选择。
主要特点：无损、三维、高精度成像
- 铸造、机械加工和增材制造的缺陷检测；
- 复杂的机电组件检验；
- 半导体元器件结构参数与缺陷；
- 分析食品结构厚度和孔隙；
- 片剂药物多层包衣的厚度及孔隙结构特征；
- 测量地质样品的孔隙率和粒度分析以及原位显微成像；
- 锂电池的封装检测，缺陷分析，极片分析——颗粒尺寸分布和孔径分布；
- 高分子材料孔隙结构与支撑材料壁厚分析等；
- 木材、植物，果实等低密度物质的高衬度成像。
本次巡会将结合实例分享技术方案，现场观摩设备实操，面对面交流测试难点。
时间：8月24日-9月11日
地址：上海・无锡・南京
日程安排
| 8月24日-中国科学院上海光学精密机械研究所 | ||
| 09:00-09:10 | 欢迎词、会议介绍、嘉宾介绍 | 刘松 博士 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 09:10-09:20 | 结构与元素分析——Bruker AXS产品与技术概览 | 王洋 应用经理 Bruker AXS |
| 09:20-10:15 | 微区X射线荧光成像光谱仪M4的技术应用分享 | 武媛媛 应用专家 铂悦仪器 |
| 10:15-11:10 | 多尺度三维X射线显微镜的最新技术与应用介绍 | 王金波 博士 Bruker AXS |
| 11:10-12:00 | 平插式能谱仪和直接电子探测EBSD在材料微纳结构表征种的应用 | 陈剑峰 博士 Bruker AXS |
| 9月7日-南京理工大学 （*参加报告的师生，仪器展示期间，免费测试） | ||
| 08:45-09:00 | 领导致辞 | 南京理工大学分析测试中心领导 |
| 09:00-09:30 | 多尺度三维X射线显微镜的最新技术与应用介绍 | 王金波 博士 Bruker AXS |
| 09:30-10:00 | XRD产品应用介绍 | 孟璐 博士 Bruker AXS |
| 10:00-10:30 | XMA产品应用介绍 | 王洋 Bruker AXS |
| 10:30-11:00 | 茶歇 | |
| 11:00-11:30 | XRM图像处理软件 dragonfly | 王金波 博士 Bruker AXS |
| 11:30-12:00 | 能谱和EBSD产品应用介绍 | 禹宝军 博士 Bruker AXS |
| 13:30-14:00 | 常规粉末X射线衍射：图谱分析与科研结论 | 潘志刚 副研究员 南京理工大学 |
| 14:00-14:30 | 扫描电镜及其联用技术应用 | 戴世娟 博士 南京理工大学 |
| 14:30-15:00 | EEBSD技术在钛铝合金凝固行为研究中的应用 | 徐俊强 副教授 南京理工大学 |
| 15:00-15:30 | 原位XRM、原位SEM主题报告 | 华控 |
| 15:30-16:00 | 薄膜材料研究中的XRD技术 | 张晓科 博士 束蕴伦琴实验室 |
| 16:00-16:30 | X从三维结构到三维力学：XRM驱动的多孔材料微结构解析与损伤演化研究 | 崔冬 副教授 南京理工大学 |
| 16:30-17:00 | XRD测试实践与大型仪器共享 | 郭路明 博士 南京大学 |
