DIFRAÇÃO DE RAIOS X (XRD)

D8 DISCOVER

A solução XRD mais versátil e flexível para atender perfeitamente aos requisitos de pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade na indústria e na academia.

Desempenho superior em XRD

Destaques

Fótons / mm²
Fontes de raios X de alto brilho
Fontes de raios X com brilho excepcional, como a fonte de raios X microfocus IµS e a fonte de raios X Turbo de alto brilho HB-TXS HB-TXS.
300 mm
Tamanho Máximo da Amostra
O compartimento espaçoso permite amostras grandes com até 300 mm de diâmetro.
50 kg
Peso Máximo da Amostra
Nossos estágios de amostras UMC exclusivos permitem a capacidade máxima de amostra.

O D8 DISCOVER é o principal difratômetro de raios X multifuncional que oferece componentes de tecnologia de ponta. Ele é projetado para a caracterização estrutural de toda a gama de materiais, desde pós, materiais amorfos e policristalinos até filmes finos multicamadas epitaxiais em condições ambientais e não ambientais.

Aplicações:

  • Identificação e quantificação de fase, determinação e refinamento de estrutura, análise de micro tensão e tamanho de cristalito,
  • Reflectometria de Raios-X, Difração de Incidência de Grazing (GID), Difração no Plano, XRD de alta resolução, GISAXS, análise GI-Stress, análise de orientação de cristal
  • Análise de tensão residual, figuras de textura e pólos, microdifração de raios-X, espalhamento de raios-X de grande angular (WAXS),
  • Análise de espalhamento total: Difração de Bragg, Função de Distribuição de Pares (PDF), Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)

Características

Características Principais

Recursos D8 DISCOVER

Fonte de Microfoco IµS

A fonte de microfoco IµS equipada com óptica MONTEL fornece um pequeno feixe de raios X de alta intensidade que é perfeitamente adequado para a investigação de pequenas áreas ou amostras.

  • Feixe de tamanho milimétrico com alto brilho e fundo ultrabaixo
  • Design verde com baixo consumo de energia, sem consumo de água e componentes de vida útil estendida
  • Óptica MONTEL para otimizar a forma e a divergência do feixe
  • Compatibilidade total com nossa grande variedade de componentes, óptica e detectores.

 

Recursos D8 DISCOVER

Estágios de amostra UMC

O D8 DISCOVER oferece uma infinidade de estágios UMC com mapeamento e capacidade de peso incomparáveis:

  • Mapeamento de amostras com peso de até 5 kg
  • Mapeamento de grandes áreas de amostras com tamanho de até 300 mm.
  • Estágios UMC para High-Throughput Screening (HTS) com suporte de até três placas de poços.

Devido à alta modularidade, os estágios UMC podem ser personalizados para atender aos requisitos do cliente que vão além das configurações padrão.

Recursos D8 DISCOVER

Detectores multimodo EIGER2 R

O EIGER2 R 250K e 500K são os detectores 2D que trazem o desempenho do Síncrotron para a Difração de Raios-X de laboratório

  • Design de sensor avançado incluindo a 2ª geração do revolucionário EIGER: até 500.000 pixels com tamanho de 75 x 75 mm² permitem Cobertura Macroscópica com Resolução Microscópica.
  • Seu design ergonômico permite adaptar a posição e orientação do detector com o mínimo esforço aos requisitos da aplicação. Isso inclui a troca sem ferramentas entre a orientação de 0°/90° e uma posição do detector continuamente variável com calibração automatizada.
  • Óptica Panorâmica e Acessórios para um campo de visão desobstruído.
  • Modo de operação 0D, 1D e 2D com modos Snap-Shot, Step, Continuous ou Advanced Scanning.
  • Integração completa e perfeita no DIFFRAC.SUITE.
Recursos D8 DISCOVER

Óptica TRIO e PATHFINDER PLUS

A ótica patenteada TRIO permite a comutação automatizada entre três caminhos de feixe:

  • Focagem Bragg-Brentano para pós
  • Feixe paralelo de alta intensidade Kα1,2 para capilar, GID e XRR
  • Geometria Kα1 de feixe paralelo de alta resolução para filmes finos epitaxiais

A óptica PATHFINDERPlus inclui um absorvedor automatizado para garantir a linearidade das intensidades medidas e permite alternar entre:

  • Fenda motorizada para medições de alto fluxo
  • Cristal analisador para medições de alta resolução

Equipado com TRIO e PATHFINDERPlus, o D8 DISCOVER domina todos os tipos de amostra, incluindo pó, granel, fibra, folha e filme fino (amorfo, policristalino e epitaxial) sob condições ambientais ou não ambientais, sem necessidade de reconfiguração.

Aplicações

Difração de raios X de classe premium

Aplicações D8 DISCOVER

Análise de Filme Fino

A difração de raios X (DRX) e a reflexão desempenham um papel dominante na caracterização não destrutiva de amostras estruturadas em camada fina. Os softwares D8 DISCOVER e DIFFRAC.SUITE suportam a execução simples de métodos comuns de XRD na análise de filmes finos:

  • Difração de Incidência de Grazing (GID) para Sensível à Superfície Identificação de fases cristalinas e determinação de suas propriedades estruturais, incluindo tamanho e deformação do cristalito.
  • Reflectometria de raios-X (XRR) para a extração de espessuras, densidades de materiais e estruturas de interface em amostras multicamadas – de substratos simples a estruturas superreticuladas altamente complexas.
  • Difração de Raios-X de alta resolução (HRXRD) para a análise de estruturas de amostras crescidas epitaxialmente: Espessura de camada, Deformação, relaxação, mosaicidade, análise de composição de cristais mistos.
  • Análise de tensão e textura (orientação preferencial)
Aplicações D8 DISCOVER

Pesquisa de Materiais

A DRX é uma das ferramentas mais importantes na pesquisa de materiais, pois permite vincular as propriedades estruturais e físicas dos materiais. O D8 DISCOVER é o principal instrumento XRD para pesquisa de materiais. Equipado com componentes de tecnologia de ponta, o D8 DISCOVER oferece desempenho superior e flexibilidade total e permite aos pesquisadores uma caracterização detalhada de seus materiais:

  • Identificação de Fase e determinação da estrutura
  • Análise de deformação de mícron e tamanho de cristalito
  • Análise de estresse e textura
  • Determinação do tamanho e distribuição das partículas.
  • Análise de XRD local usando feixes de raios X de tamanho µm
  • Mapeamento de espaço recíproco
Aplicações D8 DISCOVER

Triagem e Mapeamento de Grandes Áreas

O D8 DISCOVER é a solução definitiva quando se trata de High-Throughput Screening (HTS) e mapeamento de grandes áreas em amostras. Os estágios de amostra UMC oferecem uma amplitude de movimento que coloca o D8 DISCOVER em uma classe própria tanto em translação motorizada quanto em capacidade de peso:

  • Hight Throughput Screening (HTS) de placa de poço e amostras depositadas em reflexão e transmissão
  • Mapeamento de amostras com tamanho de até 300 mm
  • Montagem e mapeamento de amostras com pesos de até 5 kg
  • Interface de automação

Especificações

Especificações D8 DISCOVER

  Specification Benefit
TWIST-TUBE

Easy switch between point and line focus

Available anodes: Cr, Cu, Mo, Ag

Max. Power and filament: up to 3 kW depending on anode material (0,4 x 16 mm² )

Patent: EP 1 923 900 B1

Quick change of the wavelength to perfectly match different applications

Fastest switch between line and point focus for a wider range of applications and better results in shorter time

IµS Microfocus Source

Power load: up to 50 W, single-phase power

MONTEL and MONTEL Plus optics combining parallel and focusing mirrors.

Beam sizes down to 180 x 180 µm².

Maximum integrated flux 8 x 10⁸ cps at mirror exit.

Beam divergence down to 0,5 mrad

Millimeter sized beam with high brilliance and ultra-low background

Green design with low power consumption, no water consumption and extended life components

Optimize the beam shape and divergence for best results

Turbo X-Ray Source (TXS)

Line focus, 0.3x3 mm²

Focal brigthness of 6 kW/mm²

Anode materials: Cu, Co, Cr, Mo

Max. voltage 50 kV, max. power depending on anode material: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW

Pre-Aligned Tungsten filament

Up to 5 times more intensity compared to standard ceramic X-ray sources.

Perfectly suited for line and spot focus applications

Pre-Aligned filament allow fast filament exchange with a minimum of re-alignment requirement.

TRIO Optics

Software push-button switch between:

Motorized Divergence Slit (Bragg-Brentano)

High Intensity Ka1,2 Parallel Beam

High Resolution Ka1 Parallel Beam

Patents: US10429326, US6665372, US7983389

Fully automatic, motorized switching between up to 6 different beam geometries without any manual  user intervention

Perfectly suited for all sample types including powders, bulk materials, fibers, sheets and thin-films (amorphous, polycrystalline and epitaxial)

High-Resolution Monochromators

Ge(220) and Ge(004) reflections in symmetric and asymmetric geometry

2-bounce and 4-bounce (Bartels type) monochromators

Alignment-free mounting through SNAP.LOCK technology

Broad choice for best resolution vs. intensity balancing to obtain best possible results.

Fast exchange of monochromators to optimize to different samples

D8 Goniometer Two-circle goniometer with independent stepper motors and optical encoders

Unparalleled accuracy and precision as manifasted by Bruker's unique alignment guarantee

Absolutely maintenance free drive mechanism / gearings with lifetime lubrication

UMC Stages

Family of sample stages

x,y for sample translation of up to +/- 150 mm

z-Drive with travel of up to 50 mm

Phi drive with infinite rotation

Max. Psi inclination up to 55°

Max. weight (at center position) : 50 kg

Unrivalled capacity in sample weight and size

Enables the implementation of large custom-made sample chambers

Centric Eulerian Cradle (CEC)

Five degrees of freedom sample stage:

x,y for sample translation of +/-40 mm

z-Drive for height alignment

Phi drive with 360° rotation

Psi drive and angular range from -11° to 98°

Max. weight load: 1 kg

Various stage attachment avaible.

Stress and Texture measurements in side-inclination for higher accuracy results.

Automated mapping capability in (x,y).

Motorized tilt-stage for precise surface alignment.

Powder- or capillary spinners allow for powder diffraction.

Bayonette sample stage holder for fast and reproducible swapping with other stages.

Pathfinder Plus Optics

Software push-button switch between:

Motorized Slit

2-bounce Ge Analyzer

Automated absorber integrated

Fully automatic, motorized switching between two different optics without any manual user intervention.

Maintains full field of view of LYNXEYE detectors.

Absorber ensures linearity in measured data

LYNXEYE XE-T

Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV

Detection Modes: 0D,1D, 2D

Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag

Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275

No need for Kß filters and secondary monochromators

100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation

Up to 450 times faster than conventional detector systems

Bragg2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam

Unique detector warranty: No defective channels at delivery time

EIGER2 The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd.

Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes

Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage

Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view

Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution

Non-ambient

Temperature: Ranging from ~12 K up to ~2500 K

Pressure: 10-⁴ mbar up to 100 bar

Humidity: 5% to 95% RH

Investigations under ambient and non-ambient conditions

Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI

Acessórios

Componentes XRD

XRD Components

As soluções Bruker XRD consistem em componentes de alto desempenho configurados para atender aos requisitos analíticos. O design modular é a chave para configurar a melhor instrumentação.

Todas as categorias de componentes fazem parte da competência chave da Bruker, desenvolvida e fabricada pela Bruker AXS, ou em estreita cooperação com fornecedores terceirizados.

Os componentes Bruker XRD estão disponíveis para atualizar os sistemas de raios X instalados para melhorar seu desempenho.

  • Fontes de raios-X
  • Óptica
  • Estágios de amostra e suportes de amostra
  • Câmaras não ambientais
  • Detectores

Webinars

Consumíveis

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Mais informações

Recursos D8 DISCOVER

Apoio

Serviço e Suporte

Nós oferecemos:

  • Suporte de help desk de profissionais de solução de problemas altamente qualificados, para isolar e resolver problemas de hardware e software
  • Serviço de instrumento remoto baseado na Web para diagnóstico de serviço e suporte a aplicativos
  • Suporte de realidade mesclada - um engenheiro virtual ao seu lado (video)
  • Manutenção planejada, de acordo com sua necessidade
  • Serviço de reparo e manutenção no local do cliente
  • Disponibilidade de peças sobressalentes normalmente durante a noite ou dentro de alguns dias úteis em todo o mundo
  • Serviços de conformidade para qualificação de instalação, qualificação operacional / verificação de desempenho
  • Planejamento e realocação do local
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