DIFRAÇÃO DE RAIOS X (XRD)

D8 DISCOVER Plus

A solução XRD mais poderosa e precisa para atender perfeitamente aos requisitos de pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade na indústria e no meio acadêmico.

XRD além das expectativas

< 0.007° 2Ɵ
Precisão nas posições de pico
O D8 DISCOVER Plus vem com uma garantia de alinhamento exclusiva em toda a faixa angular com base no material de referência padrão NIST SRM 1976.
160° 2Ɵ
Difração no plano no seu melhor
O braço não coplanar da Bruker permite medições de difração no plano com precisão e alcance angular incomparáveis.
6 kW/mm²
Fonte de raios X de brilho mais alto em XRD
O TXS-HE oferece um foco de raios-X com 6kW / mm², tornando-o a melhor escolha para aplicações de foco de linha e local.
Somente a Bruker oferece uma garantia de alinhamento padrão para posição, resposta e resolução.
Garantia de alinhamento exclusiva da Bruker

D8 DISCOVER Plus - Assista ao vídeo

Versatilidade - Difração de Raios X - Desempenho

O D8 DISCOVER Plus é o difratômetro de raios X mais poderoso e versátil do mercado.

Core é o goniômetro ATLAS de alta precisão que hospeda a fonte de raios X Turbo de alta eficiência (TXS-HE) e o braço não coplanar líder de mercado.

Ele é projetado para a caracterização estrutural de toda a gama de materiais, desde pós, materiais amorfos e policristalinos até filmes finos multicamadas epitaxiais em condições ambientais e não ambientais.

Aplicações:

  • Identificação e quantificação de fase, determinação e refinamento de estrutura, análise de micro tensão e tamanho de cristalito,
  • Reflectometria de Raios-X, Difração de Incidência de Grazing (GID), Difração no Plano, XRD de alta resolução, GISAXS, análise GI-Stress, análise de orientação de cristal
  • Análise de tensão residual, figuras de textura e pólos, microdifração de raios-X, espalhamento de raios-X de grande angular (WAXS),
  • Análise de espalhamento total: Difração de Bragg, Função de Distribuição de Pares (PDF), Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)

Características Principais

Recursos D8 DISCOVER Plus

Non-Coplanar Arm

O D8 DISCOVER Plus pode ser equipado com o braço não coplanar para realizar medições de difração no plano com desempenho incomparável.

  • Faixa de 2θ acessível de até 160° para precisão incomparável na determinação do espaçamento d.
  • Precisão incomparável com codificador angular direto.
  • Componentes dedicados do caminho do feixe aumentam as intensidades medidas para obter sinais mesmo de filmes policristalinos ultrafinos.
  • Integração perfeita no software DIFFRAC.SUITE e no DIFFRAC.DAVINCI para eficiência maximizada.
Recursos D8 DISCOVER Plus

Goniômetro ATLAS™

Na difração de raios X, a base para uma análise precisa da amostra é o goniômetro e a orientação precisa dos componentes montados, principalmente durante a medição. O goniômetro ATLAS atende exatamente a esses requisitos por design e define a referência para precisão angular e espacial:

  • Goniômetro robusto e livre de manutenção
  • Motores de passo de alta precisão com codificadores ópticos de alta resolução
  • Interfaces precisas e monitoradas por software para montagem de componentes

O D8 DISCOVER Plus equipado com o goniômetro ATLAS vem com uma garantia de alinhamento genérica Bruker AXS: o desvio angular ∆2Theta das posições de pico medidas e certificadas 2Theta é ≤0,007°. Isso é verificado medindo o padrão SRM1976 certificado pelo NIST com cada instrumento individual.

Recursos D8 DISCOVER Plus

Fonte de raios X TXS-HE

Quer a medida chave de uma ferramenta analítica de raios X seja a qualidade dos dados, definida como sinal-ruído ou sinal-fundo, ou a taxa de transferência da amostra, uma constante é que um sinal a mais é sempre uma vantagem.

A fonte de raios X Turbo de alta eficiência (TXS-HE) foi projetada para aumentar o sinal enquanto minimiza a manutenção associada à tecnologia de ânodo rotativo.

  • Até 5 vezes a intensidade de um tubo selado industrial
  • Configuração de foco de linha com brilho de ponto focal insuperável de 6 kW/mm2
  • Acoplamento ideal com óptica para máxima intensidade
  • Comprimento do caminho do feixe reduzido para minimizar a dispersão do ar

Além da Difração de Classe Premium

Aplicações D8 DISCOVER Plus

Análise de Filme Fino

Difração Coplanar

Em um experimento coplanar, a fonte e o detector aumentam seu ângulo em relação à superfície da amostra, resultando em uma direção de sondagem na superfície da amostra.

  • Difração de Incidência de Grazing (GID) para identificação sensível à superfície de fases cristalinas e determinação de suas propriedades estruturais, incluindo tamanho e deformação do cristalito.
  • Reflectometria de raios-X (XRR) para a extração de espessuras, densidades de materiais e estruturas de interface em amostras multicamadas – de substratos simples a estruturas super-reticuladas altamente complexas.
  • Espalhamento de raios-X de pequeno ângulo de incidência de pastoreio (GISAXS)

Difração Não Coplanar

Em um experimento não coplanar, o ângulo da fonte e do detector em relação à superfície da amostra é fixo, com o detector se movendo em uma direção paralela à superfície da amostra, resultando em uma direção de sondagem ao longo da superfície da amostra.

  • A Difração de Incidência de Grazing no Plano (IPGID) reduz a profundidade de penetração para nm, permitindo o isolamento da superfície e aumentando a sensibilidade a camadas com espessuras atômicas.
  • O IPGID policristalino permite a determinação do tamanho do cristalito no plano
  • O IPGID epitaxial permite a determinação direta de parâmetros de rede no plano e orientação no plano.
Aplicações D8 DISCOVER Plus

Pesquisa de Materiais

O goniômetro ATLAS aumenta a precisão do posicionamento angular e do espaço real das análises, permitindo medições em grande escala de áreas em miniatura da amostra. Uma nova classe de difratômetros é realizada combinando a divergência simétrica IµS com MONTELPlus e a família de detectores multimodo EIGER2 R, resultando em qualidade de feixe e capacidade de detecção semelhantes às encontradas em linhas de luz.

  • Difração de incidência de pastejo (GID) para identificação sensível à superfície de fases cristalinas e determinação de suas propriedades estruturais como tamanho e deformação do cristalito.
  • Reflectometria de raios-X (XRR) para a extração de espessuras, densidades de materiais e estruturas de interface em amostras multicamadas – de substratos simples a estruturas super-reticuladas altamente complexas.
  • Difração de raios-X de alta resolução (HRXRD) para a análise de estruturas de amostras crescidas epitaxial: Espessura de camada, tensão, relaxação, mosaicidade, análise de composição de cristais mistos.
  • Análise de tensão e textura (orientação preferencial)
  • Espalhamento de raios-X de grande angular (WAXS)
Aplicações D8 DISCOVER Plus

Difração de Pó

A Difração de Pó (XRPD) cobre uma ampla gama de aplicações em amostras com baixo grau de orientação. O D8 DISCOVER Plus leva o XRPD a um novo nível de precisão com o goniômetro ATLAS. Ao melhorar a precisão além do goniômetro D8 líder do setor, a análise XRPD no D8 DISCOVER Plus permite que os pesquisadores descubram pequenos detalhes estruturais não observados anteriormente. Equipar o D8 DISCOVER Plus com o TXS-HE permite a aquisição de dados XRPD mais de 5x mais rápido do que um sistema de tubo convencional.

Combinado com o poderoso software DIFFRAC.SUITE, o D8 DISCOVER Plus permite a execução simples de aplicativos PXRD como:

  • Identificação de Fase
  • Quantificação de Fase
  • Solução de estrutura
  • Análise de função de distribuição de pares (PDF)
  • Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)

Especificações D8 DISCOVER Plus

  Specification Benefit
TWIST-TUBE

Easy switch between point and line focus

Available anodes: Cr, Cu, Mo, Ag

Max. Power and filament: up to 3 kW (0,4 x 16 mm²), depending on anode material

Patent: EP 1 923 900 B1

Quick change of the wavelength to perfectly match different applications

Fastest switch between line and point focus for a wider range of applications and better results in shorter time

Iµs Microfocus Source

Power load: up to 50 W, single-phase power

MONTEL and MONTEL Plus optics combining parallel and focusing mirrors.

Beam sizes down to 180 x 180 µm².

Maximum integrated flux 8 x 10⁸ cps at mirror exit.

Beam divergence down to 0,5 mrad

Millimeter sized beam with high brilliance and ultra-low background

Green design with low power consumption, no water consumption and extended life components

Optimize the beam shape and divergence for best results

TXS-HE X-Ray Source

Compact and light design for vertical ATLAS goniometer

Line focus, 0.3x3 mm²

Focal Brigthness of 6 kW/mm²

Anode materials: Cu, Co, Cr, Mo

Max. voltage 50 kV, max. power depending on anode material: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW

Pre-Aligned Tungsten filament

High flux X-ray source that allows for horizontal sample mounting.

Up to 5 times more intensity compared to standard ceramic X-ray sources.

Perfectly suited for line and spot focus applications

Pre-Aligned filament allow fast filament exchange with a minimum of re-alignment requirement.

TRIO Optics

Software push-button switch between:

Motorized Divergence Slit (Bragg-Brentano)

High Intensity Ka1,2 Parallel Beam

High Resolution Ka1 Parallel Beam

Patents: US10429326, US6665372, US7983389

Fully automatic, motorized switching between up to 6 different beam geometries without any manual  user intervention

Perfectly suited for all sample types including powders, bulk materials, fibers, sheets and thin-films (amorphous, polycrystalline and epitaxial)

High-Resolution Monochromators

Ge(220) and Ge(004) reflections in symmetric and asymmetric geometry

2-bounce and 4-bounce (Bartels type) monochromators

Alignment-free mounting through SNAP.LOCK technology

Broad choice for best resolution vs. intensity balancing to obtain best possible results.

Fast exchange of monochromators to optimize to different samples

ATLAS™ Goniometer

Vertical goniometer with enforced mechanics designed to host TXS-HE X-ray source

Industry leading angular accuracy : ±0.007° 2θ guaranteed over the entire angular range determined on NIST SRM 1976

Seamless integration of D8 family of components, including optics, positioning cameras, sample stage, nonambient and detector technologies

Unparalleled accuracy and precision as manifested by Bruker's unique alignment guarantee

Absolutely maintenance free drive mechanism / gearings with lifetime lubrication

Supports the full range of applications to generate highest accuracy data

Non-Coplanar Arm

Third goniometer axis for investigating ultra-thin layers and in-plane sample properties:

Min. step size: 0.001°

Max. 2θ range (depending on the configuration): 160°

Automated detector distance detection

 

Unmatched accuracy with direct angular encoder

Seamless integration in DIFFRAC.SUITE software

Up to 160° 2θ range for most accurate Non-Coplanar structure determination

Real-time calibration for EIGER2 detector

Compact UMC Stages

Compact UMC Plus 80:

Fast spinner for XRPD

Max. (x,y) translation: +/- 40 mm

Max. sample height: 57 mm

 

Compact UMC Plus 150:

Max. (x,y) translation: +/- 75 mm

Max. sample height: 57 mm

Vacuum and electric feedthroughs for wafer chuck and tilt stages

Seamless switching between Thin Film research and Powder diffraction mode

5 position sample changer for 51 mm sample diameter

9 position sample changer for 32 mm sample diameter

Mapping of 2-4” wafers

 

Mapping of 6-8” wafers

Reflection mode 96 well plate capability

Allows for infinite Phi rotation with connected Tilt-stage and vacuum without a need to care for cables or vacuum pipe.

Centric Eulerian Cradle (CEC)

Five degrees of freedom sample stage:

x,y for sample translation of +/-40 mm

z-Drive for height alignment

Phi drive with 360° rotation freedom.

Psi drive and angular range from -11° to 98°

Max. weight load: 1 kg

Various stage attachment available.

Stress and Texture measurements in side-inclination mode for more accurate results.

Automated mapping capability in (x,y).

Motorized tilt-stage for precise surface alignment.

Powder- or capillary spinners allow for powder diffraction.

Bayonet sample stage holder for fast and reproducible swapping with other stages.

Pathfinder Plus Optics

Software push-button switch between:

Motorized Slit

2-bounce Ge Analyzer

Automated absorber integrated

Fully automatic, motorized switching between two different optics without any manual user intervention.

Maintains full field of view of LYNXEYE detectors.

Absorber ensures linearity in measured data

LYNXEYE XE-T

Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV

Detection Modes: 0D,1D, 2D

Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag

Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275

No need for Kß filters and secondary monochromators

100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation

Up to 450 times faster than conventional detector systems

Bragg2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam

Unique detector warranty: No defective channels at delivery time

EIGER2 The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd.

Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes

Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage

Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view

Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution

Non-ambient

Temperature: Ranging from ~12 K up to ~2500 K

Pressure: 10-⁴ mbar up to 100 bar

Humidity: 5% to 95% RH

Investigations under ambient and non-ambient conditions

Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI

Componentes XRD

As soluções Bruker XRD consistem em componentes de alto desempenho configurados para atender aos requisitos analíticos. O design modular é a chave para configurar a melhor instrumentação.

Todas as categorias de componentes fazem parte da competência chave da Bruker, desenvolvida e fabricada pela Bruker AXS, ou em estreita cooperação com fornecedores terceirizados.

Os componentes Bruker XRD estão disponíveis para atualizar os sistemas de raios X instalados para melhorar seu desempenho.

Recursos D8 DISCOVER Plus

Serviço e Suporte

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