D8 DISCOVER Plus
远超您预期的XRD解决方案
D8 DISCOVER Plus是市面上功能最强大、最全能的X射线衍射仪。
其核心在于高精度ATLAS测角仪，它具有高效的Turbo X射线源（TXS-HE）和市场领先的非共面臂。
它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。
应用范围：
- 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
- X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
- 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）
- 总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）
市场概况
汽车和航空航天
半导体与微电子
制药业筛选
储能/电池
药物
地质学
金属
薄膜计量
主要功能
非共面臂
D8 DISCOVER Plus可配备非共面臂，以无与伦比的性能进行面内衍射测量。
- 2θ可达160°，在测定d间距时，具有无与比拟的准确性。
- 通过角度编码器，即可实现无可匹敌的精度。
- 专用的光路组件，可提高测量强度，您甚至能够获取超薄多晶薄膜的信号。
- 可与DIFFRAC.SUITE软件和DIFFRAC.DAVINCI无缝集成，从而最大限度地提高效率。
ATLAS™ 测角仪
在X射线衍射中，测角仪以及已安装组件的精确定向（尤其是测量时）是实现精准的样品分析的基础。ATLAS测角仪通过设计充分地满足了这些要求，并设定了角和空间精度的基准：
- 坚固且免维护的测角仪
- 带有高分辨率光学编码器的高精度步进电机
- 受软件监控的精确接口，用于组件安装
测得的峰值位置和认证的峰值位置2Theta的角度偏差∆2Theta≤0.007°。这一点可通过使用单独仪器，以NIST认证的SRM1976标准进行测量来进行验证。
TXS-HE X射线源
不论X射线分析工具的关键指标是数据质量（定义为信噪比或信噪比-背景）还是样品吞吐量，更多的信号始终是一大优势。
高效Turbo X射线源（TXS-HE）旨在增强信号的同时，最大程度地减少阳极旋转技术相关的维护。
- 强度是工业密封管的5倍
- 线焦点：无与伦比的焦点亮度，即6 kW / mm2
- 与光学器件的理想结合，可实现最大强度
- 减少光路长度，从而最大限度地减少空气散射
ATLAS™测角仪
具有MONTEL光学器件的IμS微焦源
Compact UMC Plus 150
PATHFINDER Plus光学器件
EIGER2 R 500K
带有专用光学器件的MONTEL Plus
突破高级衍射
薄膜分析
共面衍射
在共面实验中，射线源和探测器相对于样品表面的角度有所加大，因此探测角度是进入样品表面的。
- 掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。
- X射线反射法（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
- 掠入射小角X射线散射（GISAXS）
非共面衍射
在非共面实验中，射线源和探测器相对于样品表面的角度是固定的，检测器以平行于样品表面的方向移动，因此探测方向是沿着样品表面的。
- 面内掠入射衍射（IPGID）：可将穿透深度减至nm，从而实现表面隔离并提高对具有原子厚度的层的灵敏探测。
- 多晶IPGID可测定面内晶粒尺寸
- 外延IPGID可直接测定面内晶格参数和面内取向。
材料研究
ATLAS测角仪提高了分析的角度精度和实际空间定位的精度，实现了对样品的微区域的宏观测量。通过将对称散度IµS与MONTELPlus和多模式EIGER2 R系列探测器结合使用，可以实现一类新的衍射仪，从而获得与光束线相似的光束质量和探测能力。
- 掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变
- X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
- 高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
- 应力和织构（择优取向）分析
- 广角X射线散射（WAXS）
粉末衍射
粉末衍射（XRPD）覆盖了大量取向度较低的样品应用。通过ATLAS测角仪，D8 DISCOVER Plus将XRPD的精准度推向了新水平。由于精度超出了业界领先的D8测角仪，分析人员可通过对D8 DISCOVER Plus，揭示未曾发现的、不起眼的结构细节。而配备TXS-HE，则可使D8 DISCOVER Plus以更快的速度收集XRPD数据：是传统的封闭X射线管系统的5倍。
而结合功能强大的DIFFRAC.SUITE软件，您将能轻松地使用D8 DISCOVER Plus处理PXRD应用：
- 定性相分析
- 定量相分析
- 结构解决方案
- 对分布函数分析（PDF）
- 小角X射线散射（SAXS）
应用范围
残余应力分析
使用了2D检测器的µXRD
非环境XRD
小角X射线散射（SAXS）
广角X射线散射（WAXS）
织构分析
倒易空间扫描
X射线反射率测量（XRR）
高分辨率X射线衍射（HRXRD）
晶片与区域扫描
倒易空间扫描
D8 DISCOVER Plus 规格
| 规格 | 优势 | |
| TWIST-TUBE | 轻松在点焦点和线焦点之间切换 可用阳极材料：Cr、Cu、Mo、Ag 最高功率和灯丝：最高3 kW，取决于阳极材料（0.4 x 16mm²） 专利：EP 1 923 900 B1 |
快速改变波长，以理想地匹配不同应用 可以最快的速度在线焦点和点焦点之间切换，因此扩展了应用范围，并且可在更短的时间内，获得更好的结果。 |
| Iµs 微焦源 | 功率负载：最高50 W，单相功率 MONTEL和MONTEL Plus光学器件：结合了平行镜和聚焦镜 光束尺寸：低至180 x 180 µm² 镜出口最大积分通量：8 x 10⁸ cps 光束发散度：低至0.5 mrad |
毫米大小的光束：高亮度和超低背景 绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命更长 优化光束形状和发散，以获得最佳结果 |
| TXS-HE X射线源 | 垂直ATLAS测角仪的紧凑轻巧设计 线焦点，0.3x3mm² 焦斑亮度为6 kW /mm² 阳极材料：Cu，Co，Cr，Mo 最高最大电压50 kV功率取决于阳极材料：Cr 3.2 kW，Cu / Mo 5.4 kW，Co 2,8 kW 预对准钨丝 |
高通量X射线源，允许水平安装样品。 强度是标准陶瓷X射线源的5倍 是线焦点和点焦点应用的理想之选 预对准的灯丝支持快速更换，极大地降低了对重新对准的要求。 |
| TRIO Optics | 软件按钮切换： 电动发散狭缝（Bragg-Brentano） 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利：US10429326、US6665372、US7983389 |
可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预 是所有类型的样品的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
| 高分辨率单色器 | 对称几何和非对称几何中的Ge（220）和Ge（004）反射 2-b和4-b（Bartels型）单色器 利用SNAP.LOCK技术，进行免对准安装 |
在最佳分辨率与强度平衡方面，为您提供广泛选择，助您获取最佳结果 可快速更换单色仪，针对不同样品进行优化 |
| ATLAS™测角仪 | 立式测角仪，采用强化的机械设计，面向的是TXS-HE X射线源 业界领先的角度精度：在NIST SRM 1976确定的整个角度范围内，保证±0.007°2θ 无缝集成D8系列组件：包括光学器件、定位摄像头、样品台、非环境和探测器技术 |
布鲁克独有的准直保证，为无与伦比的精确度提供了保证 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置，终身润滑 支持所有应用程序，以生成最高精度的数据 |
| 非共面臂 | 第三测角仪轴，用于研究超薄层和面内样品特性： 最小步长：0.001° 最高2θ范围（取决于配置）：160° 探测器自动距离检测 |
通过角度编码器，即可获得无与伦比的精度 与DIFFRAC.SUITE软件无缝集成 范围高达160°2θ，可最准确地测定非共面结构 EIGER2探测器提供实时校准 |
| 紧凑的UMC样品台 | Compact UMC Plus 80: XRPD快速旋转器 最大（x, y）移动：+/- 40毫米 最高样品高度：57毫米 Compact UMC Plus 150: 最高（x, y）移动：+/- 75毫米 最高样品高度：57毫米 用于硅片夹和倾斜台的真空和电力通孔 |
可在薄膜研究和粉末衍射模式之间无缝切换 5位进样器：样品直径为51 mm 9位自动进样器：样品直径为32mm 扫描2-4英寸晶圆 扫描6-8英寸晶圆 反射模式：96孔板 在连接倾斜样品台和真空样品台的情况下，可不受限制地进行Phi旋转，而无需考虑电缆或真空管路。 |
| Centric Eulerian Cradle (CEC) | 样品台：5个自由度 x、y：+/- 40 mm样品移动 z：高度对准 Phi：360°旋转 Psi：-11°-98° 最高承载重量：1kg 提供各种样品台附件 |
侧面倾斜时可进行应力和织构测量，以获取更高的精度。 （x，y）：自动映射功能。 电动倾斜台：可精确对准表面。 粉末或毛细管旋转器：可用于粉末衍射。 Bayonette样品台支持器：可与其他样品台快速、可重复地互换。 |
| Pathfinder Plus Optics | 软件按钮切换： 电动狭缝 2-b Ge分析晶体 集成自动吸收器 |
可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换，无需人工干预。 保持了LYNXEYE探测器的完整视野。 利用吸收器，确保了测得数据的线性。 |
| LYNXEYE XE-T | 能量分辨率： 8 KeV时，<380 eV 检测模式：0D、1D、2D 波长：Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利：EP1647840、EP1510811、US20200033275 |
无需Kß过滤器和二级单色仪 铜辐射即可100％过滤铁荧光 速度比传统探测器系统快450倍 Bragg2D：使用发散的初级线束收集2D数据 独一无二的探测器保修：交货时绝无不良通道 |
| EIGER2 | Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器，支持多种模式（0D / 1D / 2D）。 | 在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式种无缝集成0D、1D和2D检测。 符合人体工程学的免对准探测器旋转功能，可优化γ或2Ɵ角度范围 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 连续可变的探测器位置，以平衡角度范围和分辨率 |
| 非环境 | 温度：范围从~-4 K到~2500 K 压力：10-⁴mbar至100 bar 湿度：5％至95％ |
在环境和非环境条件下进行调查 凭借DIFFRAC.DAVINCI，轻松更换样品台 |
