D8 DISCOVER
Desempenho superior em XRD
O D8 DISCOVER é o principal difratômetro de raios X multifuncional que oferece componentes de tecnologia de ponta. Ele é projetado para a caracterização estrutural de toda a gama de materiais, desde pós, materiais amorfos e policristalinos até filmes finos multicamadas epitaxiais em condições ambientais e não ambientais.
Aplicações:
- Identificação e quantificação de fase, determinação e refinamento de estrutura, análise de micro tensão e tamanho de cristalito,
- Reflectometria de Raios-X, Difração de Incidência de Grazing (GID), Difração no Plano, XRD de alta resolução, GISAXS, análise GI-Stress, análise de orientação de cristal
- Análise de tensão residual, figuras de textura e pólos, microdifração de raios-X, espalhamento de raios-X de grande angular (WAXS),
- Análise de espalhamento total: Difração de Bragg, Função de Distribuição de Pares (PDF), Espalhamento de Raios-X de Pequeno Ângulo (SAXS)
Galeria de Mercado
Automotivo e Aeroespacial
Semicondutores e Microeletrônica
Triagem na Indústria Farmacêutica
Armazenamento de Energia / Baterias
Produtos Farmacêuticos
Geologia
Metais
Metrologia de Filme Fino
Características Principais
Fonte de Microfoco IµS
A fonte de microfoco IµS equipada com óptica MONTEL fornece um pequeno feixe de raios X de alta intensidade que é perfeitamente adequado para a investigação de pequenas áreas ou amostras.
- Feixe de tamanho milimétrico com alto brilho e fundo ultrabaixo
- Design verde com baixo consumo de energia, sem consumo de água e componentes de vida útil estendida
- Óptica MONTEL para otimizar a forma e a divergência do feixe
- Compatibilidade total com nossa grande variedade de componentes, óptica e detectores.
Estágios de amostra UMC
O D8 DISCOVER oferece uma infinidade de estágios UMC com mapeamento e capacidade de peso incomparáveis:
- Mapeamento de amostras com peso de até 5 kg
- Mapeamento de grandes áreas de amostras com tamanho de até 300 mm.
- Estágios UMC para High-Throughput Screening (HTS) com suporte de até três placas de poços.
Devido à alta modularidade, os estágios UMC podem ser personalizados para atender aos requisitos do cliente que vão além das configurações padrão.
Detectores multimodo EIGER2 R
O EIGER2 R 250K e 500K são os detectores 2D que trazem o desempenho do Síncrotron para a Difração de Raios-X de laboratório
- Design de sensor avançado incluindo a 2ª geração do revolucionário EIGER: até 500.000 pixels com tamanho de 75 x 75 mm² permitem Cobertura Macroscópica com Resolução Microscópica.
- Seu design ergonômico permite adaptar a posição e orientação do detector com o mínimo esforço aos requisitos da aplicação. Isso inclui a troca sem ferramentas entre a orientação de 0°/90° e uma posição do detector continuamente variável com calibração automatizada.
- Óptica Panorâmica e Acessórios para um campo de visão desobstruído.
- Modo de operação 0D, 1D e 2D com modos Snap-Shot, Step, Continuous ou Advanced Scanning.
- Integração completa e perfeita no DIFFRAC.SUITE.
Óptica TRIO e PATHFINDER PLUS
A ótica patenteada TRIO permite a comutação automatizada entre três caminhos de feixe:
- Focagem Bragg-Brentano para pós
- Feixe paralelo de alta intensidade Kα1,2 para capilar, GID e XRR
- Geometria Kα1 de feixe paralelo de alta resolução para filmes finos epitaxiais
A óptica PATHFINDERPlus inclui um absorvedor automatizado para garantir a linearidade das intensidades medidas e permite alternar entre:
- Fenda motorizada para medições de alto fluxo
- Cristal analisador para medições de alta resolução
Equipado com TRIO e PATHFINDERPlus, o D8 DISCOVER domina todos os tipos de amostra, incluindo pó, granel, fibra, folha e filme fino (amorfo, policristalino e epitaxial) sob condições ambientais ou não ambientais, sem necessidade de reconfiguração.
Óptica TRIO
Goniômetro D8
Fonte de Raio X Turbo (TXS)
Fonte de microfoco IµS com óptica MONTEL
Difração de raios X de classe premium
Análise de Filme Fino
A difração de raios X (DRX) e a reflexão desempenham um papel dominante na caracterização não destrutiva de amostras estruturadas em camada fina. Os softwares D8 DISCOVER e DIFFRAC.SUITE suportam a execução simples de métodos comuns de XRD na análise de filmes finos:
- Difração de Incidência de Grazing (GID) para Sensível à Superfície Identificação de fases cristalinas e determinação de suas propriedades estruturais, incluindo tamanho e deformação do cristalito.
- Reflectometria de raios-X (XRR) para a extração de espessuras, densidades de materiais e estruturas de interface em amostras multicamadas – de substratos simples a estruturas superreticuladas altamente complexas.
- Difração de Raios-X de alta resolução (HRXRD) para a análise de estruturas de amostras crescidas epitaxialmente: Espessura de camada, Deformação, relaxação, mosaicidade, análise de composição de cristais mistos.
- Análise de tensão e textura (orientação preferencial)
Pesquisa de Materiais
A DRX é uma das ferramentas mais importantes na pesquisa de materiais, pois permite vincular as propriedades estruturais e físicas dos materiais. O D8 DISCOVER é o principal instrumento XRD para pesquisa de materiais. Equipado com componentes de tecnologia de ponta, o D8 DISCOVER oferece desempenho superior e flexibilidade total e permite aos pesquisadores uma caracterização detalhada de seus materiais:
- Identificação de Fase e determinação da estrutura
- Análise de deformação de mícron e tamanho de cristalito
- Análise de estresse e textura
- Determinação do tamanho e distribuição das partículas.
- Análise de XRD local usando feixes de raios X de tamanho µm
- Mapeamento de espaço recíproco
Triagem e Mapeamento de Grandes Áreas
O D8 DISCOVER é a solução definitiva quando se trata de High-Throughput Screening (HTS) e mapeamento de grandes áreas em amostras. Os estágios de amostra UMC oferecem uma amplitude de movimento que coloca o D8 DISCOVER em uma classe própria tanto em translação motorizada quanto em capacidade de peso:
- Hight Throughput Screening (HTS) de placa de poço e amostras depositadas em reflexão e transmissão
- Mapeamento de amostras com tamanho de até 300 mm
- Montagem e mapeamento de amostras com pesos de até 5 kg
- Interface de automação
Galeria de Aplicação
Análise de Tensão Residual
µXRD com detector 2D
Identificação de Fase
Especificações D8 DISCOVER
| Specification | Benefit | |
| TWIST-TUBE | Easy switch between point and line focus Available anodes: Cr, Cu, Mo, Ag Max. Power and filament: up to 3 kW depending on anode material (0,4 x 16 mm² ) Patent: EP 1 923 900 B1 |
Quick change of the wavelength to perfectly match different applications Fastest switch between line and point focus for a wider range of applications and better results in shorter time |
| IµS Microfocus Source | Power load: up to 50 W, single-phase power MONTEL and MONTEL Plus optics combining parallel and focusing mirrors. Beam sizes down to 180 x 180 µm². Maximum integrated flux 8 x 10⁸ cps at mirror exit. Beam divergence down to 0,5 mrad |
Millimeter sized beam with high brilliance and ultra-low background Green design with low power consumption, no water consumption and extended life components Optimize the beam shape and divergence for best results |
| Turbo X-Ray Source (TXS) | Line focus, 0.3x3 mm² Focal brigthness of 6 kW/mm² Anode materials: Cu, Co, Cr, Mo Max. voltage 50 kV, max. power depending on anode material: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW Pre-Aligned Tungsten filament |
Up to 5 times more intensity compared to standard ceramic X-ray sources. Perfectly suited for line and spot focus applications Pre-Aligned filament allow fast filament exchange with a minimum of re-alignment requirement. |
| TRIO Optics | Software push-button switch between: Motorized Divergence Slit (Bragg-Brentano) High Intensity Ka1,2 Parallel Beam High Resolution Ka1 Parallel Beam Patents: US10429326, US6665372, US7983389 |
Fully automatic, motorized switching between up to 6 different beam geometries without any manual user intervention Perfectly suited for all sample types including powders, bulk materials, fibers, sheets and thin-films (amorphous, polycrystalline and epitaxial) |
| High-Resolution Monochromators | Ge(220) and Ge(004) reflections in symmetric and asymmetric geometry 2-bounce and 4-bounce (Bartels type) monochromators Alignment-free mounting through SNAP.LOCK technology |
Broad choice for best resolution vs. intensity balancing to obtain best possible results. Fast exchange of monochromators to optimize to different samples |
| D8 Goniometer | Two-circle goniometer with independent stepper motors and optical encoders | Unparalleled accuracy and precision as manifasted by Bruker's unique alignment guarantee Absolutely maintenance free drive mechanism / gearings with lifetime lubrication |
| UMC Stages | Family of sample stages x,y for sample translation of up to +/- 150 mm z-Drive with travel of up to 50 mm Phi drive with infinite rotation Max. Psi inclination up to 55° Max. weight (at center position) : 50 kg |
Unrivalled capacity in sample weight and size Enables the implementation of large custom-made sample chambers |
| Centric Eulerian Cradle (CEC) | Five degrees of freedom sample stage: x,y for sample translation of +/-40 mm z-Drive for height alignment Phi drive with 360° rotation Psi drive and angular range from -11° to 98° Max. weight load: 1 kg Various stage attachment avaible. |
Stress and Texture measurements in side-inclination for higher accuracy results. Automated mapping capability in (x,y). Motorized tilt-stage for precise surface alignment. Powder- or capillary spinners allow for powder diffraction. Bayonette sample stage holder for fast and reproducible swapping with other stages. |
| Pathfinder Plus Optics | Software push-button switch between: Motorized Slit 2-bounce Ge Analyzer Automated absorber integrated |
Fully automatic, motorized switching between two different optics without any manual user intervention. Maintains full field of view of LYNXEYE detectors. Absorber ensures linearity in measured data |
| LYNXEYE XE-T | Energy Resolution: < 380 eV @ 8 KeV Detection Modes: 0D,1D, 2D Wavelengths: Cr, Co, Cu, Mo and Ag Patents: EP1647840, EP1510811, US20200033275 |
No need for Kß filters and secondary monochromators 100% filtering of Fe-fluorescense with Cu radiation Up to 450 times faster than conventional detector systems Bragg2D: Collect 2D data with a divergent primary line beam Unique detector warranty: No defective channels at delivery time |
| EIGER2 | The latest generation multi-mode (0D/1D/2D) detector based on the Hybrid Photon Counting technology, developed by Dectris Ltd. | Seamless integration of 0D, 1D and 2D detection in step, continuous and advanced scanning modes Ergonomic, alignment-free detector rotation to optimize γ or 2Θ angular coverage Panoramic, tool-free diffracted beam optics using the complete detector field of view Continuously variable detector positioning to balance angular coverage and resolution |
| Non-ambient | Temperature: Ranging from ~12 K up to ~2500 K Pressure: 10-⁴ mbar up to 100 bar Humidity: 5% to 95% RH |
Investigations under ambient and non-ambient conditions Easily exchanged stages with DIFFRAC.DAVINCI |
Componentes XRD
As soluções Bruker XRD consistem em componentes de alto desempenho configurados para atender aos requisitos analíticos. O design modular é a chave para configurar a melhor instrumentação.
Todas as categorias de componentes fazem parte da competência chave da Bruker, desenvolvida e fabricada pela Bruker AXS, ou em estreita cooperação com fornecedores terceirizados.
Os componentes Bruker XRD estão disponíveis para atualizar os sistemas de raios X instalados para melhorar seu desempenho.
Webinars
Recursos D8 DISCOVER
Brochures & Flyers & Lab Reports
Application Notes & Reports & Product Sheets
- Rapid XRD Analysis of Pharmaceuticals: Snapshot 1D and 2D Mode with the EIGER2 R 500K
- Large-Area RSM with the EIGER2 R 500K: Analysis of InxGa1-xN LED, GaAs and Si1-xGex epitaxial films
- μXRD in Geology with EIGER2 R 500K: In-Situ Study of Lazulite from Graves Mountain, Georgia, USA
- Residual Stress with EIGER2 R 500K: 0D, 1D, and 2D investigation of a polycrystalline tungsten coating on silicon
- Texture Analysis with EIGER2 R 500K and DIFFRAC.TEXTURE: Investigation of Rolled and Drawn Aluminum Sheets
- D8 DISCOVER with IμS, μXRD Phase mapping
- D8 DISCOVER with IμS Microfocus Source, In-Plane Grazing Incidence Diffraction (IP-GID)
- D8 DISCOVER with IμSHigh Brilliance Microfocus Source, X-Ray Reflectometry
- High Resolution X-Ray Diffraction from PZT Capacitors
- D8 DISCOVER with IμSHigh Brilliance Microfocus Source, Powder Diffraction
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, 2D RSM of Thin Films
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, 2D GI-SAXS
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, micro XRD2 of Quartz Monzonite
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, XRD2 of Polymers
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, Texture Analysis with XRD2
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, Residual Stress Analysis with XRD2
- Universal Motion Concept and Eulerian Cradles for Controlled Sample Positioning
- EIGER2 R for the D8 Family
Serviço e Suporte
- Helpdesk para problemas técnicos com suporte de hardware, software e aplicativos usando ferramentas avançadas de serviço remoto baseadas na Web.
- Contratos de serviço de manutenção do LabScape
- Suporte sob demanda no local
- Instalação e qualificação operacional, bem como verificação de desempenho
- Planeamento, realocação e consultoria do local
- Substituição e peças sobressalentes, consumíveis, e treinamento presencial e online
- Atualizações de software, manuais e gerenciamento do LabScape MSA (brukersupport.com)