Espectrômetros Micro-XRF

M1 MISTRAL

Espectrômetro micro-XRF de bancada compacto

Material a granel e revestimentos

Operação econômica

Destaques

100 µm
Tamanho mínimo do ponto
Pode até mesmo resolver detalhes de estrutura fina em placas de circuito
2 nm-60 µm
Faixa de espessura para análise de várias camadas de vários elementos
Análise desafiadora da espessura e composição da camada de acordo com ASTM B568 e ISO 3497; incluindo camadas com elementos repetidos; análise multiponto programável
8 ppm
Limites de detecção para Cu, Zn em polímeros ou Pb em Zn
Triagem RoHS, análise de oligoelementos em soldas, plásticos, ligas metálicas; correção automática na espessura do material, posicionamento exato do ponto de medição em componentes de PCB

Um espectrômetro micro-XRF de bancada multiuso compacto

Fatores-chave

  • Instrumento flexível
  • Fácil de operar
  • Interface de tela sensível ao toque amigável
  • Acesso a dados brutos

M1 MISTRAL é um analisador micro-XRF dispersivo de energia de bancada compacto para uso multiuso. Fácil de operar e projetado para uma operação rápida e econômica em um ambiente industrial, o M1 MISTRAL fornece informações precisas sobre a composição elementar e a espessura da camada de materiais como ligas de metais preciosos, bem como para estruturas multicamadas.

A granel e os revestimentos são analisados ​​de acordo com o padrão ASTM B568 e com a norma europeia ISO 3497. Alta precisão pode ser alcançada na análise de revestimentos de fosfato de níquel (NiP) com excitação através de um alvo Rh.

A composição exata de todas as ligas de joias, metais do grupo da platina ou prata pode ser determinada em uma fração de minuto. Os resultados podem ser emitidos em % em peso ou em quilate.

A análise pode ser realizada sem padrão ou com base em padrão para atingir níveis ainda mais altos de precisão. Uma grande variedade de calibrações está disponível para cada aplicação.

Desde o posicionamento da amostra até a impressão dos resultados em um relatório - o fluxo de trabalho completo é integrado ao software. Ao mesmo tempo, a transparência total é garantida com o acesso aberto aos dados brutos.

Benefícios

Benefícios do M1 MISTRAL

Uma grande variedade de elementos pode ser medida de forma não destrutiva. Nenhuma preparação de amostra é necessária. Mesmo tarefas analíticas complexas podem ser automatizadas com o estágio XYZ programável e iniciadas com um único clique do mouse. Os sistemas de detecção ultrarrápidos fornecem resultados rápidos.

O M1 MISTRAL vem com um detector de desvio de silício (SDD) de grande área com desempenho de taxa de contagem superior e resolução de energia para reduzir os limites de detecção até o nível de ppm. Detector de alto desempenho, processamento de pulso digital e condições geométricas otimizadas resultam em uma detecção de raios X altamente eficiente e, portanto, resultados de análise rápidos e precisos.

O design fácil de usar e livre de manutenção do M1 MISTRAL e o poderoso conjunto de software analítico permitem a operação mesmo por pessoal que recebeu apenas um breve treinamento. Não são necessários consumíveis ou gases. A construção robusta garante a mais alta estabilidade e operação livre de manutenção.

Especificações

Detalhes técnicos

Excitation

  • High performance micro focus tube with W or Rh target    
Max. sample size & weight
  • 48x49x20 cm³
  • up to 1.8 kg

Detector

  • Peltier cooled, 30 mm² high performance silicon drift detector, <150 eV energy resolution at Mn Ka            
Maxi. stage travel range 
  • Up to 200 mm x 175 mm x 80 mm (for motorized XYZ stage with auto focus and EasyLoad function)

Wide range of elements

  • Default: from Ti (Z=22) with W target 
  • Optional: from Al (Z=13) with Rh target                      
Instrument dimensions (W x D x H)
  • 550 mm x 680 mm x 430 mm
X-ray spot size
  • Collimator changer for 0.1 mm to 1.5 mm              
   

Software

Pacote de Software Analítico XSpect Pro

  • Controle de instrumentos, aquisição e gerenciamento de dados
  • Interface de tela de toque selecionável pelo usuário
  • Controle de palco e programação
  • Análise de multicamadas metálicas quanto à espessura e composição da camada
  • Análise de composição quantitativa, modelos empíricos sem padrões e baseados em padrões
  • Visualizador de espectro com identificação automática de pico
  • Linha de tendência e dados de controle estatístico de processo (SPC)
  • Gerador de relatórios
  • Arquivo de resultados