洞见纳米晶
eWARP TKD新品发布会

长期以来，超细晶、超薄 FIB 薄片、二维材料、半导体多层膜的纳米晶体取向表征面临诸多挑战：测试效率低下、需要高束流、易造成束敏感样品损伤，难以兼顾高分辨率与大面积数据采集。

eWARP TKD 融合成熟的直接电子探测（DED）技术与布鲁克专利同轴 TKD 几何构型，成为 SEM 平台纳米尺度晶体学表征全新方案。

现线上新品发布会正式开启预约，由布鲁克资深应用专家主讲，深度拆解 eWARP TKD 技术优势与前沿应用。

直播时间：

2026年8月28日10：00

看点预告：

1.行业背景：TKD 技术发展与现有方案瓶颈

2.新品解读：eWARP TKD，同轴 TKD 全面升级

3.前沿应用案例解析，包含半导体 FIB 薄片、纳米晶合金、储能电极材料、薄膜界面、原位动态表征

4.在线问答交流

举办时间：

2026 年 8月 28日上午10:00

举办方式：

视频号：布鲁克纳米分析

预约直播：

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