マイクロエレクトロニクス関連ウェビナー
めっき・はんだ・実装評価・ナノインデンターをテーマにしたマイクロエレクトロニクスウェビナー。半導体・MEMS・電子部品材料分野のお客様に評価技術の最前線をお届けします。（約55分）
ウェビナー要約
めっき・はんだ・実装評価・ナノインデンターをテーマにしたマイクロエレクトロニクスウェビナーです。半導体・MEMS・電子部品材料分野のお客様に評価技術をお届けします。
＜プログラム＞
①「ナノインデンターを用いたエレクトロニクス材料の機械的特性評価技術」３０分
近年、ますます小型化・微小化してきているエレクトロニクス材料において、その微小な領域の機械的特性を把握することは材料開発・品質管理・プロセス設計上きわめて有効である。本発表では、ナノ～マイクロスケールの定量的機械的特性評価装置であるナノインデンターを用いて、エレクトロニクス材料の機械的特性を評価した事例をご紹介する。
ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 二軒谷 亮
②「マイクロエレクトロニクスおけるAFMナノオーダー解析」
パワー半導体はスマートフォンやパソコンなどの一般向け商品から、電気自動車や電車などの電力制御に使用されています。
本講演ではナノオーダーで解析可能な原子間力顕微鏡（AFM）を用いて金属、はんだ、パワー半導体材料の形状評価から電気特性を評価した事例を紹介する。
ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 寺山 剛司
※ブルカーのプログラムのみとなります
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※ 同業企業様のご参加はご遠慮いただいております。予めご了承願います。
このウェビナーで取り上げられた技術の詳細や、原子力顕微鏡（AFM）向けの当社の他のソリューションについて、詳しくはこちらをご覧ください：
