X射线衍射(XRD)

DIFFRAC.EVA

该软件可用于分析一维和二维X射线衍射的数据,包括数据查看、数据扣除、物相定性和定量分析,统计分析等等。

普通数据分析

常规数据和前沿研究

亮点

X射线衍射工作者的“瑞士军刀”

DIFFRAC.EVA软件可快速分析一维和二维衍射数据。它适合布鲁克所有种类的探测器和XRD扫描类型的数据。EVA的功能包括数据扣除、基本的数据分析和报告、详细的衍射峰分析、物相的定性和定量,以及结晶度和晶粒大小的计算。

EVA可与所有相关的数据库相结合进行物相定性分析,此外还可利用晶体结构和基于XRF的化学分析得到的可靠的化学成分补充信息。

而且,DIFFRAC.EVA还支持对来自如今的快速探测器的大数据进行高效的评估,支持利用原位环境,支持高通量筛选或空间分辨测量。该软件不仅提供特定的图表类型,还提供先进的化学计量工具,以便通过聚类分析和模式匹配进行结晶和非晶形态鉴别和定量。

它不仅完全支持常规的基于文件的分析任务,还能结合DIFFRAC.SUITE数据库执行日常分析任务,甚至能在CFR第21章第11部分的法规所要求的、针对医药行业的受控环境中使用。最后,DIFFRAC.EVA可以直接在EVA中,或者利用DIFFRAC.SUITE结果管理器及仪器数据库,编制可以发表的图形及用户自定义的报告。

特点

数据扣除、可视化和操作

EVA是用于初步了解测量情况的首选软件。精简由稳定的探测器抓拍到的一张或多张图片中的数据,或者将来自二维扫描探测器的像素重新转化为常规的一维XRD数据,是个非常重要的步骤。EVA可为进一步分析这些一维数据提供完善的工具。它们既包括常规信号处理和扫描运算,也包括着眼于单个峰值和完整扫描的更先进技术。

大数据可视化和特征提取

EVA中的聚类分析可供更深入地了解和直观地显示大型X射线数据集。

聚类分析工具改编自著名的Polysnap软件。它能帮助识别已知和未知样品,分析混合物和异常值,并帮助进行质量控制。它既能用于高通量筛选,也能用于分析非环境条件下的数据。

DIFFRAC.EVA – 聚类分析,三维MMDS视图

计量多维尺度法是一种在三维图形中表示聚类分析的方法。EVA还提供PCA图和最多达到六个维度的图表,用于实现更多信息的可视化。

大数据集和补充信息

多扫描读取器可快速载入数百个扫描,并以二维的形式简单地概括这些扫描数据。这样很容易发现常规质量控制测量中的异常值,并能从倒易空间图或一系列变温条件下或运行中的测量中提取出值得详细研究的特定扫描。

补充扫描信息——如测量位置、温度、湿度、电荷态,甚至单个峰的强度或非晶态背景的数量等——可以显示在侧视图中。同样,这些信息也有助于找出能用于进一步研究相转变、相分解或形成的扫描。

BRAGG2D

利用Bragg-Brentano几何的大光束足迹和高分辨率,结合利用LYNXEYE探测器系列进行的非对称一维检测方式,可以以简单的方法监测样品形态(比如,因为晶粒粒度和结构不均匀、或由于晶粒在样品台上的排列而形成的择优取向等原因形成的斑点缺陷)。DIFFRAC.EVA可用于使这些数据可视化,并选择单个需要进一步详细研究的扫描。

物相分析

 自首次发布以来,EVA的检索/匹配模块通常被认为是最可靠和最准确的物相识别工具。并且,EVA在一次国际检索/匹配循环赛中取得了最佳成绩(Le Meins et al., 2002, www.cristal.org/smrr)。自此以后,EVA又经历了许多次改进,这使其比常规的物相分析软件更加优异)。

  • 对已经识别过物相的扫描曲线进行高度复杂的残余峰检索的功能大大改进了对少量相的分析。
  • 由于检测限下限(LLoD)大大降低,支持可变计数时间(VCT)和动态光束优化(DBO)数据,以实现高度准确的痕量物相分析。
  • 同时在多个引用数据库中检索,包括ICDD PDF2/PDF4+/PDF4矿物质/PDF4有机物数据库。
  • 对候选物相进行分组,以处理数量不断增加的类似或几乎相同的引用数据库条目。
  • 基于RIR(参考强度比)值的物相鉴定和准确的物相定量分析。

优势

EVA的优势

  • 集聚所有最好的数据整合和评估算法
  • 创新的设计和操作理念,最大限度地实现操作流程简化和灵活
  • 充分利用现代计算机和操作系统,如多线程、专用并行化、本机支持64位系统等
  • 实时预览所有分析进行可视化检查
  • 想要撤销一个操作?没问题!EVA允许你撤销操作和重新操作
  • 高度灵活的GUI能够适应可用的用户硬件、最佳操作实践和各种软件模块的需求
  • 根据用户喜好自定义各个窗口布局、栏目配置和屏幕设置
  • 与DIFFRAC.SUITE测量和结果管理器软件高度集成
  • 详细的分步教程让EVA一开始的使用就很简单

应用

你在分析方面的挑战有哪些?

峰和物相监测

分析单个峰的线性或面积数据,以用于进行质量控制,监测晶粒种类的形成或改变,或者自动测定峰/背比或信噪比。

结晶度测定

分析结晶度(或材料中晶体与非晶体或纳米晶体的比率)时,需要仔细分析在扩展的扫描范围内基线与谱峰的间隔。

晶粒大小测定

峰宽与晶粒大小成反比。Scherrer公式可量化这一关系。可通过分析面积数据或峰的线性来获得DIFFRAC.EVA中的晶粒大小。

物相鉴定

DIFFRAC.EVA为高效地匹配XRD测量结果与引用数据库提供了工具。这使得可以从超过44万种无机化合物和超过55万种已知的有机晶体化合物中,快速甚至自动地识别出混合物中的化合物种类。

定量分析

利用基于列表格式的参考强度比的半定量分析,快速通过经典的棒型图或完整谱图拟合定量混合物中的组成成分。利用内标物也能测定混合物中的非晶化合物的占比(wt-%)。

晶体参数

可以用DIFFRAC.EVA软件优化每种晶体材料典型的几何参数(通过考虑仪器和样品的异常行为)。

聚类分析

从最多6个维度上进行分级相似度分析和可视化,分类,自动确定无定型和混合物分析,提出如下问题:我了解这种材料吗?它与哪种已知的材料相似?材料组别中的典型代表有哪些?

扫描匹配

通过利用关联分析和实测的参考扫描结果,可以识别和定量在数据库中找不到的物质。这不仅适用于纯相位,而且允许鉴别那些本身是由多种物相组成的混合物。

摇摆曲线

摇摆曲线是通过用二维探测器检测系列不同的样品取向获得的数据,可以用于对单晶或薄膜进行快速的质量检查。

规格

DIFFRAC.EVA的技术指标

版本

最新软件版本为DIFFRAC.EVA V6、DIFFRAC.Part 11 V7  

数据库兼容性

第8版和两个向后兼容的版本,允许读/写访问

 

合规

cGxP/21CFR Part 11                             

 

操作系统

Windows 8和10

32位和64位

 

支持

让您的DIFFRAC.EVA保持最新版本

免费维护更新

通过免费的DIFFRAC.EVA维护更新,您的EVA版本可被更新到最新版。无论您的EVA许可级别是什么,您都能通过www.brukersupport.com免费下载最新的维护更新。

下载步骤

  • 在“布鲁克客户支持中心(Bruker Customer Support)”上注册
  • 点击“软件”按钮
  • 搜索“DIFFRAC.EVA维护更新”
  • 下载更新

漏洞修复

通过让您的DIFFRAC.EVA保持最新版本,无论许可级别是什么,您都有权使用所有补丁对当前的版本及所有以前发布的版本进行修复。DIFFRAC.EVA维护更新是累积性的,因而可以用于任何以前的版本。

何为升级?

DIFFRAC.EVA维护更新没有附带新功能。如果您想使用在新版本中引入的功能,则需要购买最新的DIFFRAC.EVA升级服务。