XFlash 6-60

用于纳米分析的大面积SDD
XFlash 6-60 探测器

 60 mm2大有效面积芯片与细管径技术探测器手指一起提供大固体角。因此,XFlash® 6-60 的性能可用于 X 射线产量相对较低的应用,即纳米分析领域。该探测器还可提供极高的能量分辨率,比如 Mn Kα 126 eV ,因此它也可以在低能端内轻松适用。

总结起来,XFlash® 6-60 具有以下优点:

  • 非常好的能量分辨率(Mn Kα 为 126 eV,C Kα 为 51 eV,F Kα 为 60 eV)
  • 其他可用分辨率为 Mn Kα 的 129 eV
  • 极高的脉冲负载能力
  • 出色的轻元素和低能端检测性能(Be - Am 元素范围)
  • 简单,无震动设计的冷却系统
  • 打开电源后立即可用
  • 低运行成本
  • 免维护操作
  • 小尺寸,包括细管径技术
  • 重量轻

XFlash® 6-60建议的应用领域包括:

  • 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统(焊接波纹管可作为选件提供)
  • 将 EDS 和高分辨率 EBSD 分析的 eFlash FS 探头相结合
  • 纳米分析