XFlash 6-60

ナノ領域分析のための検出器
XFlash 6-60検出器

スリムラインチューブデザインを有した大口径60mm2 EDSで、高立体角を実現しています。XFlash® 6-60 は、ナノサイズ領域の元素分析においても、高効率でX
線を取得することが可能です。また、低加速・低電流条件下においても高精度な元素分析を可能とします。また、仕様によってはMn Kαで126 eVを保証しており、軽元素領域においても高精度な元素分析を可能としました。

XFlash® 6-60 の優位点

  • 優れたエネルギー分解能(Mn Kαで126 eV、C Kαで51 eV、F Kαで60 eV(CとFは参考値))
  • その他の仕様はMn Kαで129 eVです
  • 高パルス処理能力(取得X線処理能力)
  • 広範囲元素の分析と、軽元素領域でのピーク分離能力(Be - Am要素範囲)
  • 電子微鏡像に影響を及ぼす振動源を有しておりません
  • 通電後、短時間で使用可能
  • 低運用コスト
  • ほぼ、メンテナンスフリーで運用可能
  • スリムラインチューブを有し、コンパクトな設計
  • 軽量

XFlash® 6-60 の得意分野

  • SEMやFIB-SEM等、幅広く電子顕微鏡とコンバイン可能(超高真空ベローズ対応可能・オプション)
  • 高速EBSD検出器であるeFlash FS と組み合わせた高速EDS-EBSD測定
  • ナノサイズの微小領域元素分析