ESPRIT 成像
多种成像选项 – 从简单的图像采集到功能齐全的图像处理
带扫描预览窗口的图像采集模式
ESPRIT 扫描
使用外部扫描系统支持仪器的图像采集软件：
- 用于 SEM、STEM 和 EPMA 等外部电子束控制、模式切换和图像采集
- I/O 扫描和 SEMLink 的驱动程序
- 来自可选模拟信号源（SE、BSE、HAADF 等）的高质量、高分辨率数字图像
- 用于扫描区域选择和束流调整的快速预览模式
- 独立选择采集时间、图像分辨率和扫描模式
- 像素、线路和帧平均，包括电源线同步（选项）
- 自动和手动亮度、对比度和Gamma修正
- 支持显示直方图
- μ标记和图像图例显示，包括配置选项
ESPRIT 颜色扫描
获取 X 射线彩色增强的图像：
- 支持无元素预选和无 X 射线范围预设置的即时彩色图像
- 高分辨电子图像中直观区分不同颜色和阴影的物相
- 令人印象深刻的拓扑和化学衬度的组合
- 轻松搜索感兴趣的点和区域
- 突出显示样品表面的颗粒，失真或独特区域
- 搜索均匀区域以寻找精确的分析结果
- 渐进式扫描，提高图像质量
- 最适合高速 XFlash® 探测器系统
处理和标记的图像
ESPRIT Vision（愿景）
数字图像处理：
- 可选择图像过滤器的配置，包括二值化和反转
- 亮度、对比度和Gamma校正
- 假色显示
- 黑白色和彩色图像处理
- 标记、图例和用户定义的图形的叠加图像
- 交互式的长度、面积和角度测量，以图形叠加形式显示数据
- 多阶段图像处理，包括内部图像存储和多个"撤消"功能
- 支持导入和导出所有常见图形格式的图像
- 支持 Twain 导出和窗口剪贴板
ESPRIT Stereo Vision（立体视觉）
3D 图像可视化和测量：
- 从立体图像重建 3D 表面拓扑
- 自由选择倾斜轴（包括非对称倾斜）有助于使用标准 SEM 进行图像采集
- 自适应图像比较模式（字形、差分图像和全帧相关分析）
- 单点深度计算、线剖面和多点操作
- 强大的 3D 结果可视化，通过线网格、阴影、人工纹理或位移矢量
- 可重新处理的项目数据库，包括原始数据、结果和设置
ESPRIT DriftCorr（漂移矫正）
- 通过将当前图像与开始测量时获得的图像进行比较，补偿扫描试样区域的图像变化
- 在采集过程中自动校正外部扫描发生器
- 显示当前和最大移位值以及比较过程的质量
- 超过最大校正值时停止测量
- 与图像采集功能和多点、选取分析、线扫描、面分析和HyperMap 选项结合使用