原位纳米机械测试

推拉设备

专为纳米线和独立薄膜而设计

现在,1D 和 2D 材料可以快速、一致地合成,因此需要新的机械特性技术来评估和优化其机械性能,以便用于下一代产品和设备。为了解决为这些新材料提供适当测试平台的需要,布鲁克开发了推拉 (PTP) 设备,这是一种原位拉伸装置,旨在与用于 SEM 和 TEM 的 Hysitron PI 系列笔克丁特仪器配合使用。

PTP 器件的光学图像(左图)和 PTP 设备间隙的 SEM 图像(右)。
负载/卸载与置换曲线(左),以及位移和负载与 PTP 设备偏转时间(右)。请注意,线性弹性行驶距离超过 4 μm。

PTP 器件是一种可消耗的 MEMS 制造的弯曲装置,可安装纳米管或薄膜试样。制备后,样品将转移到笔克Indenter系统,并应用定量拉伸负载。机械数据用于计算拉伸特性,同时电子显微镜成像提供微观结构行为的实时视频。名为"电动推拉(E-PTP")的电气版本进一步扩展了功能,并在整个拉伸实验中实现了四点电气测量。