原位纳米机械测试

压转拉装置

专为纳米线和独立式薄膜而设计

由于 1D 和 2D 材料可以快速一致地合成,因此需要新的力学表征技术来评估和优化其力学性能,以便用于下一代产品和装置。为了解决给这些新材料提供合适测试平台的需求,布鲁克开发了压转拉(PTP)设备,该原位拉伸装置旨在与用于 SEM 和 TEM 的 Hysitron PI Series PicoIndenter 仪器结合使用。

PTP 装置的光学影像(左图)和 PTP 装置间隙的 SEM 图像(右)。
加载/卸载与位移的曲线(左),以及 PTP 装置偏转下位移和加载与时间的曲线(右)。其中线性弹性行进距离大于 4 μm。

PTP 装置是一种MEMS 制造的柔性器件耗材,可安装纳米管或薄膜试样。制备后,样品将转移到 PicoIndenter 系统,并被施加定量拉伸载荷。力学数据用于计算拉伸性能,同时电子显微镜成像可提供微观结构行为的实时视频。该装置的电气版本"电动压转拉(E-PTP)"进一步扩展了其功能,可以在整个拉伸实验中进行四点电气测量。