인시투 나노 기계 식 테스트

푸시 투 풀 장치

나노 와이어 및 자유 스탠딩 박막용으로 설계

이제 1D 및 2D 재료가 신속하고 일관되게 합성될 수 있게 되었으므로 차세대 제품 및 장치에서 사용하기 위해 기계적 특성을 평가하고 최적화하기 위해 새로운 기계적 특성화 기술이 필요합니다. 이러한 새로운 형태의 재료에 적합한 테스트 플랫폼을 제공해야 할 필요성을 해결하기 위해 Bruker는 SEM 및 TEM용 Hysitron PI 시리즈 피코인텐터 계측기와 함께 작동하도록 설계된 시상 인장 장치인 푸시 투 풀(Push-to-Pull) 장치를 개발했습니다.

PTP 장치 갭(오른쪽)의 PTP 장치(왼쪽) 및 SEM 이미지의 광학 이미지입니다.
적재/언로드 대 변위 곡선(왼쪽) 및 PTP 장치 편향(오른쪽)의 시간 대 변위 및 부하. 선형 탄성 이동 거리는 4 μm 이상이었습니다.

PTP 장치는 나노튜브 또는 박막 시편을 장착할 수 있는 소모품, MEMS-날조 굴곡 장치이다. 일단 준비되면 샘플은 PicoIndenter 시스템으로 전송되고 정량적 인장 부하가 적용됩니다. 기계적 데이터는 인장 특성을 계산하는 데 사용되며 동시 전자 현미경 이미징은 미세 구조 거동의 실시간 비디오를 제공합니다. 전기 푸시-투-풀(E-PTP)이라는 장치의 전기 버전은 기능을 더욱 확장하고 인장 실험 전반에 걸쳐 4점 전기 측정을 가능하게 합니다.