TEM PICOINDENTER SERIES

Hysitron PI 95

우리의 전송 전자 현미경 내부의 정량적 나노 기계 테스트
IN-SITU NANOMECHANICAL TEST INSTRUMENT

Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter

브루커의 Hysitron PI 95 TEM Picoindenter는 전송 전자 현미경(TEM) 내에서 직접 관찰 나노 기계적 테스트를 할 수 있는 최초의 본격적인 심도 감지 인드론입니다. 이 측면 엔트리 계측기를 사용하면 나노 스케일 재료의 기계적 반응을 이미지화 할뿐만 아니라 부하 변위 데이터를 동시에 획득 할 수 있습니다. 또한 통합 된 비디오 인터페이스를 사용하면 부하 변위 곡선과 해당 TEM 비디오 사이의 시간 동기화를 허용합니다.

본격적인
깊이 감지 인덴터
전송 전자 현미경 내부의 직접 관찰 나노 기계적 테스트를 가능하게 합니다.
실적
고급 제어 모듈
78kHz 의 피드백 속도와 최대 38kHz의 데이터 수집을 제공하여 탈구 버스트와 같은 일시적인 이벤트를 캡처합니다.
정확한
팁 포지셔닝 및 기계적 테스트
3축 포지셔너, 3D 압전 액추에이터, 정전기 변위 감지를 위한 고급 트랜스듀서가 포함되어 있습니다.

TEM을 위한 맞춤형 솔루션

하이시트론 PI 95는 JEOL, FEI, 히타치 및 자이스 현미경과의 호환성을 위해 신중하게 설계되었습니다. 이 계측기를 사용하면 나노 스케일 재료의 기계적 반응을 이미지화 할뿐만 아니라 정량적 기계적 데이터를 동시에 수집 할 수 있습니다. 통합 된 비디오 인터페이스를 사용하면 부하 변위 곡선과 해당 TEM 비디오 간의 동기화를 할 수 있습니다.

나노 스케일 조사에 최적화

압축 전후의 Ni 나노 필로의 다크 필드 TEM 이미지. 기둥에서 처음에 관찰된 높은 탈구 밀도는 압축 시 사라졌습니다. 자연 재료 7, 115-119 (2007).

Hysitron PI 95는 나노 스케일 현상의 조사에 유일하게 적합합니다. TEM에서 이러한 유형의 연구를 수행하면 탈구 버스트, 위상 변환, 스팔링, 전단 밴딩 또는 골절 발병을 포함할 수 있는 많은 가능한 힘 또는 변위 과도 사이의 명확한 분화를 제공할 수 있습니다.

타의 추종을 불허하는 성능

실시예 1 μN 스크래치 테스트: (1) 일반 및 측면 하중 및 변위 대 시간 및 (2-5) 상기 TEM 비디오에서 대응하는 프레임은 팁과 곡물의 상부에 있는 어퍼티의 평평성을 미리 보여주는 DLC 필름의 좌굴을 보여주는 것이다.

Hysitron PI 95는 팁 포지셔닝 및 기계적 테스트를 위해 세 가지 수준의 제어를 활용합니다. 3축 거친 포지셔너와 미세한 포지셔닝을 위한 3D 압전 액추에이터 외에도, 이 계측기는 정량적 나노스케일 기계 데이터를 획득하기 위한 정전기 작동 및 정전용량 변위 감지를 위한 트랜스듀서가 장착되어 있습니다.

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