Hysitron PI 95
Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter
브루커의 Hysitron PI 95 TEM Picoindenter는 전송 전자 현미경(TEM) 내에서 직접 관찰 나노 기계적 테스트를 할 수 있는 최초의 본격적인 심도 감지 인드론입니다. 이 측면 엔트리 계측기를 사용하면 나노 스케일 재료의 기계적 반응을 이미지화 할뿐만 아니라 부하 변위 데이터를 동시에 획득 할 수 있습니다. 또한 통합 된 비디오 인터페이스를 사용하면 부하 변위 곡선과 해당 TEM 비디오 사이의 시간 동기화를 허용합니다.
TEM을 위한 맞춤형 솔루션
하이시트론 PI 95는 JEOL, FEI, 히타치 및 자이스 현미경과의 호환성을 위해 신중하게 설계되었습니다. 이 계측기를 사용하면 나노 스케일 재료의 기계적 반응을 이미지화 할뿐만 아니라 정량적 기계적 데이터를 동시에 수집 할 수 있습니다. 통합 된 비디오 인터페이스를 사용하면 부하 변위 곡선과 해당 TEM 비디오 간의 동기화를 할 수 있습니다.
나노 스케일 조사에 최적화
Hysitron PI 95는 나노 스케일 현상의 조사에 유일하게 적합합니다. TEM에서 이러한 유형의 연구를 수행하면 탈구 버스트, 위상 변환, 스팔링, 전단 밴딩 또는 골절 발병을 포함할 수 있는 많은 가능한 힘 또는 변위 과도 사이의 명확한 분화를 제공할 수 있습니다.
타의 추종을 불허하는 성능
Hysitron PI 95는 팁 포지셔닝 및 기계적 테스트를 위해 세 가지 수준의 제어를 활용합니다. 3축 거친 포지셔너와 미세한 포지셔닝을 위한 3D 압전 액추에이터 외에도, 이 계측기는 정량적 나노스케일 기계 데이터를 획득하기 위한 정전기 작동 및 정전용량 변위 감지를 위한 트랜스듀서가 장착되어 있습니다.
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Frequently Asked Questions
In-situ mechanical testing inside a TEM to measure nanoscale mechanical, electrical, and functional properties of materials with simultaneous high-resolution imaging.
Nanoindentation, compression, tension (with PTP), bending, fatigue, fracture, creep, strain-rate loading, and electromechanical testing (with E-PTP).
1D (nanowires, nanopillars, fibers), 2D (films, membranes, graphene), and 3D microstructures, as well as interfaces (grain boundaries, multilayers, joints).
Direct atomic- to nanoscale observation of deformation, defect nucleation, dislocation motion, fracture, and phase transformations with nanometer resolution.
Typically, the systems can reach up to 1–2 mN load and 1–2 μm of displacement, sufficient for most nanostructures and thin films.
Focused ion beam (FIB) milling or microfabrication methods are commonly used to prepare site-specific TEM lamellae, nanopillars, or suspended structures.
The most common applications include nanomechanics of metals, semiconductors, ceramics, polymers, 2D materials, battery/electrochemical materials, and MEMS/NEMS, as well as thin film reliability and defect dynamics studies.