Série TEM PicoIndentador

Hysitron PI 95

Testes nanomecânicos quantitativos dentro do seu microscópio eletrônico de transmissão
Instrumento de Teste Nanomecânico In-Situ

Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter

O Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter da Bruker é o primeiro penetrador de detecção de profundidade completo capaz de testes nanomecânicos de observação direta dentro de um microscópio eletrônico de transmissão (TEM). Com este instrumento de entrada lateral, não é apenas possível visualizar a resposta mecânica de materiais em nanoescala, mas também adquirir dados de deslocamento de carga simultaneamente. Além disso, uma interface de vídeo integrada permite a sincronização de tempo entre a curva de deslocamento de carga e o vídeo TEM correspondente.

Full-fledged
penetrador de detecção de profundidade
Permite testes nanomecânicos de observação direta dentro de um microscópio eletrônico de transmissão.
Performech
módulo de controle avançado
Fornece uma taxa de feedback de 78 kHz e aquisição de dados de até 38 kHz para capturar eventos transitórios, como rajadas de deslocamento.
Precise
posicionamento de ponta e testes mecânicos
Inclui um posicionador de três eixos, atuador piezoelétrico 3D e transdutor avançado para atuação eletrostática e detecção de deslocamento capacitivo.

Solução personalizada para o seu TEM

O Hysitron PI 95 foi cuidadosamente projetado para compatibilidade com microscópios JEOL, FEI, Hitachi e Zeiss. Com este instrumento, não só é possível obter imagens da resposta mecânica de materiais em nanoescala, mas também adquirir dados mecânicos quantitativos simultaneamente. A interface de vídeo integrada permite a sincronização entre a curva de deslocamento de carga e o vídeo TEM correspondente.

Otimizado para investigação em nanoescala

Dark-field TEM images of a Ni nanopillar before and after compression. The high dislocation density initially observed in the pillar has disappeared upon compression. Nature Materials 7, 115-119 (2007).

O Hysitron PI 95 é especialmente adequado para a investigação de fenômenos em nanoescala. A realização desses tipos de estudos no TEM pode fornecer diferenciação inequívoca entre as muitas causas possíveis de transientes de força ou deslocamento que podem incluir explosões de deslocamento, transformações de fase, fragmentação, bandas de cisalhamento ou início de fratura.

Desempenho Incomparável

An example 1 μN scratch test: (1) Normal and lateral loads and displacements versus time and (2-5) corresponding frames from the in-situ TEM video showing the buckling of the DLC film in advance of the tip and flattening of the asperities in the tops of the grains.

O Hysitron PI 95 utiliza três níveis de controle para posicionamento da ponta e testes mecânicos. Além de um posicionador grosseiro de três eixos e um atuador piezoelétrico 3D para posicionamento preciso, o instrumento é equipado com um transdutor para atuação eletrostática e sensor de deslocamento capacitivo para aquisição de dados mecânicos quantitativos em nanoescala.

Webinars

Watch our Recent Broadcasts on Nanomechanics in SEM

Our webinars cover best practices, introduce new products, provide quick solutions to tricky questions, and offer ideas for new applications, modes or techniques.

Contact Us

Input value is invalid.

* Please fill out the mandatory fields.

Please enter your first name
Please enter your last name
Please enter your e-mail address
Please enter a valid phone number
Please enter your Company/Institution
What best describes your current interest?
Please add me to your email subscription list so I can receive webinar invitations, product announcements and events near me.
Please accept the Terms and Conditions