原位纳米机械测试

Hysitron PI 89 的旋转和倾斜样品台

支持成像、FIB 铣削和访问探测器(如 EDS、CBD、EBSD 和 TKD)以用于分析数据和成像

两种配置

配置 A(标准):

  • 垂直于缩进轴的旋转 - 针对传统的 EBSD、FIB 铣削和自上而下成像进行了优化

配置 B(主轴):

  • 平行于缩进轴的旋转 - 针对实时 EBSD、TKD、STEM 优化
  • 通过将纳米机械与多个探测器和视角相结合,充分利用显微镜。
  • 通过 FIB 加工和真空测试减少样品处理和暴露
  • 倾斜范围:180°,精度:0.33°
  • 旋转范围:180°,精度:0.18°

配置 A(标准):

Hysitron PI 89 配备可选的倾斜和旋转级,具有具有五自由度(X、Y、Z、倾斜、旋转)的灵活样品定位,使用户能够将样品与离子束对齐以进行样品制备,或与 EBSD、EDS 或 WDS 等探测器对齐,从而更深入地了解材料的机械响应。

复式钢相的缩进和EBSD映射。

配置 B(主轴):

  • 平行于缩进轴的旋转
  • 针对实时 EBSD、TKD、STEM 进行了优化


粒子压缩和原位 FIB 铣削。