인-시투 나노 기계 식 테스트

하이시트론 PI 89의 회전 및 기울기 스테이지

분석 데이터 및 이미징을 위한 EDS, CBD, EBSD 및 TKD와 같은 이미징, FIB 밀링 및 검출기에 대한 액세스 지원

두 가지 구성

구성 A(표준):

  • 들여쓰기 축에 수직으로 회전 - 기존의 EBSD, FIB 밀링 및 하향식 이미징에 최적화

구성 B(스핀들):

  • 들여쓰기 축에 평행한 회전 - 라이브 EBSD, TKD, STEM에 최적화
  • 나노역학과 여러 검출기 및 시야각을 결합하여 현미경을 활용하십시오.
  • FIB 가공 및 진공 상태에서 의 한 테스트를 통해 샘플 처리 및 노출 감소
  • 기울기 범위: 180°, 정확도: 0.33°
  • 회전 범위: 180°, 정확도: 0.18°

구성 A(표준):

선택적 틸트 및 회전 스테이지가 장착된 Hysitron PI 89는 5도의 자유(X, Y, Z, 틸트, 회전)를 갖춘 유연한 시료 포지셔닝을 특징으로 하며, 시료 준비를 위한 이온 빔또는 EBSD, EDS 또는 WDS와 같은 검출기와 샘플을 정렬하여 재료의 기계적 반응을 더 깊이 이해할 수 있습니다.

이중 강철 의 위상에 대한 들여쓰기 및 EBSD 매핑.

구성 B(스핀들):

  • 들여쓰기 축에 평행한 회전
  • 라이브 EBSD, TKD, STEM에 최적화


입자 압축 및 현장 FIB 밀링.