接触模式(Contact Mode)

利用AFM测量样品形貌的基本操作模式

采用接触模式,针尖会直接与样品接触,沿着样品表面进行扫描,样品表面存在形貌差异,高低起伏,则在垂直方向上引起悬臂梁的形变,系统中安装有光电检测器,衡量悬臂梁形变量的大小。反馈系统会收集信号,反馈系统维持悬臂上的负载力恒定于某个预设值(即悬臂的静态弯曲量恒定)。

接触模式在材料科学、生命科学、基础研究等领域得到广泛应用,同时,针尖与样品直接接触的模式还为拓展SPM更高级的功能奠定了基础。接触模式测量成像是SPM系列产品的基本功能之一。

 

 

可以应用接触模式(Contact Mode)的AFM仪器型号:

选配的AFM探针型号:

TESP, MPP-11100-10, ESP, SNL-10, DNP-10, MLCT, MSNL-10