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Hysitron TriboScope

增强您的AFM的表征能力

布鲁克的海思创TriboScope®在原子力显微镜上提供了定量、刚性探针纳米压痕和纳米摩擦学测试能力。海思创的TriboScope可以和布鲁克的Dimension Icon®,Dimension Edge™和MultiMode® 8等原子力显微镜联用,用于扩展这些原子力显微镜的功能。使用刚性压针,TriboScope克服了悬臂测量方法的固有局限,多变性和复杂配置,提供了定量和可重复的纳米及微米尺度的力学和摩擦学表征。

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TriboScope tool image
surface analysis

定量,可信和可重复

扩展我们业界领先的AFM的能力

TriboScope能快速集成到Dimension Icon, Dimension Edge, and MultiMode 8 systems。

On Off
Triboscope 4 images

TriboScope通过创新的测试模式促进您的研究。

准静态纳米压痕

实现微结构、界面、表面微小特征结构和薄膜的原位定量纳米力学性能表征,包括弹性模量、硬度、蠕变、应力弛豫、断裂韧性等。

原位扫描探针成像

使用同样的探针做力学测试和成像,具有纳米级别的定位精度,可以实现材料测试后形变的表征。

磨损形貌扫描

可设定探针与样品的接触压力,通过光栅式扫描得到样品表面定量磨损数据。

纳米划痕

采用布鲁克独有的二维力传感器技术,能定量测试材料的抗划痕/损伤性能、摩擦系数和薄膜粘附力等性能。

nanoDMA III – 动态纳米压痕

采用布鲁克的nanoDMA® III模块能获得材料弹性模量、粘弹性特性随着压入深度、频率和时间的变化趋势。


刚性探针的优势

多数AFM使用柔性悬臂来做力学或者摩擦学测试。这种方法难以区分悬臂本身的弯曲和旋转,与材料本身的应力响应。TriboScope采用刚型探针可以在测试中直接测量材料本身的加载力和位移数据。

Triboscope Cantilever Image
Triboscope Displacement Image v2

静电力加载

TriboScope采用独有的静电力加载和电容位移传感器技术,具有最低的噪音水平和温漂,可以实现真正纳米尺度的性能表征。


力和位移反馈控制

TriboScope可实现闭环的力控制或者位移控制。采用高达78kHz的闭环反馈,TriboScope能响应材料的瞬时形变事件,准确实现预设的测试方案。

Triboscope Graph Image