Hysitron TS 75 TriboScope
Hysitron TS 75 TriboScope
Le TriboScope Hysitron TS 75 offre des capacités de nanoindentation quantitative à sonde rigide et des capacités de caractérisation nanotribologique aux microscopes à force atomique de Bruker, leaders mondiaux. Le TriboScope Hysitron s'interface avec les AFM Dimension Icon, Dimension Edge et MultiMode 8 de Bruker pour étendre les capacités de caractérisation de ces microscopes. En utilisant une sonde de test rigide, le TriboScope élimine les limitations intrinsèques, la variabilité et la complexité associées aux mesures basées sur le cantilever pour fournir une caractérisation mécanique et tribologique quantitative et répétable sur des échelles de longueur allant du nanomètre au micromètre.
L'Avantage des Sondes Rigides
La plupart des AFM utilisent un cantilever souple pour effectuer des tests mécaniques ou tribologiques, ce qui pose des problèmes importants pour séparer la rigidité en flexion et en rotation d'un cantilever de la réponse du matériau à la contrainte appliquée. Le TriboScope utilise un assemblage de sonde de test rigide, permettant le contrôle et la mesure directe de la force appliquée et du déplacement pendant le test.
Actionnement de Force Électrostatique Propriétaire
Le TriboScope utilise une technologie propriétaire d'actionnement de force électrostatique et de transducteur de détection de déplacement capacitif pour offrir des niveaux de bruit et une dérive thermique faibles, permettant de caractériser les propriétés jusqu'à l'échelle nanométrique.
Contrôle par Rétroaction de la Force et du Déplacement
Le TriboScope fonctionne avec un contrôle de force ou de déplacement en boucle fermée. En utilisant un taux de boucle de rétroaction de 78 kHz, le TriboScope peut répondre à des événements transitoires de déformation rapide du matériau et reproduire fidèlement la fonction de test définie par l'opérateur.
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