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原子力显微镜

Dimension Icon 原子力显微镜

全球性能最优的大样品台AFM
Dimension Icon

亮点

Dimension Icon 原子力显微镜

Bruker Dimension®   Icon™  原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验,具有高水平的性能、功能和配件选择, 其测试功能强大,操作简便易行。齐集 Dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求, Dimension Icon进行了全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平。现在,用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。

终极性能
探针扫描式扫描器
独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现开环噪声级别的大样品高分辨率扫描成像,热漂移速率低于200 pm
操作简单易用
无以伦比的效率
提供简单、直观的操作流程,以快速实现发表级数据的获取。
优秀的多功能性
多功能的配件选择
适合广泛的实验、模式、技术和半自动测量。

特点

特征

高性能和高分辨率

Dimension®  Icon™优秀的分辨率,与 Bruker 特有的电子扫描算法相结合,显著提升了测量速度与质量。Dimension®  Icon™是针尖扫描技术的最新革新,一直处于领先地位。该系统配置温度补偿位置传感器,实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平,将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上,效果甚至超过高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时,图像质量也不会被损坏,实现了更大的数据采集输出量。配置Bruker 专利的PeakForce®技术,Dimension Icon可实现智能获取高分辨图像。

接触模式获得的云母原子图像,扫描速度0.6Hz

卓越表现

Dimension Icon用户操作界面。

Dimension  Icon原子力显微镜已成为研究领域最受欢迎的原子力显微镜型号之一, 使用Dimension  Icon发表文章的数目远比其他大样品台AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平台上引入最新技术,展现出更高的性能和更快的测量速度。其软件直观的工作流程,使其操作过程比以往最先进的AFM 技术更加简便。Dimension  Icon用户无需像以前一样,通常需要几小时的专业参数调整,即可立即获得高质量的测量结果。Dimension Icon 的每个方面,从完全开放式针尖样品空间,到软件参数预设置,都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM 易用性。

灵活的AFM平台

Dimension Icon 展现出了的无与伦比的性能,稳定性和灵活性,几乎可以实现以前只有在特制系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台,大型或多元样品支架和许多简单易用的性能,把AFM 的强大功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前,为高质量AFM成像和纳米操作设定了新的标准。

Dimension Icon 提供对性能没有任何影响的灵活性平台, 一个平台,无限可能:

  • 开放的平台,能整合其他技术
  • 开放的软件和硬件,能轻松定制您的研究应用 - "如果它不存在, 就发明它"
  • 电池、有机太阳能等研究的完整解决方案

 

左图:手套箱中的AFM-拉曼联用。右图:光导AFM配件。

应用

AFM 模式

用AFM拓展您的应用

凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。

基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。

网络研讨会

反馈

推荐

听听客户怎么说

布鲁克的尺寸图标是地球上最可定制和灵活的AFM。Dimension 图标使我们的实验室取得了关键进展,即开发表面电压显微镜和阐明作为太阳能燃料光标记的核心电荷转移动力学。一路上,我们始终可以依靠布鲁克高级应用团队的出色支持。

范风涛教授,中国科学院大连化学物理研究所太阳能研究室组长、国家重点实验室副主任

布鲁克图标AFM系统安装在两年前在我们的洁净室设施,[在那里]被揭示为一个独特的仪器,其能力,以执行低噪音和高分辨率成像的许多用户,在多种样品和可靠的性能!ScanAsyst 模式将 AFM 探头保持数周良好状态,并允许任何学生独立,并在短期培训后开始测量。我们非常满意!

Pasqualantonio Pingue, 意大利比萨, 拉沃托里奥 NEST 首席运营官, 斯库拉师范高级

我们尺寸图标系统的新多功能原子力显微镜揭示了纳米级表面特征和地形,如粘附和模量及其扫描和峰值力 QMM。通过结合传导的 AFM 和 KPFM 功能,可以同时观察接汇点和设备特性,帮助我们了解有关配置文件变形和接口状态的更多详细信息。此外,图标的高速和可靠性提供快速的流程检查和分析。

林云跃,台湾半导体制造有限公司

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