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QUANTAX Compact30

Das EDS-System für COXEM EM-30 SEM

QUANTAX Compact30 ist das ideale EDS-System, speziell für das Rasterelektronenmikroskop COXEM EM-30 entwickelt. QUANTAX Compact30 besteht aus einem XFlash® Silizium-Driftdetektor (SDD) mit der besten Energieauflösung in seinem Bereich, einer kompakten Elektronikeinheit und der einfach zu bedienenden ESPRIT Compact Software. Der maßgeschneiderte XFlash® SDD passt in das Mikroskopgehäuse, ohne die Leistung und den Platzbedarf des REMs zu beeinträchtigen.

Das System führt qualitative und quantitative Analysen aller Materialien mit einem Elementbereich von Bor (5) bis Californium (98) durch. Neben der Analyse der chemischen Zusammensetzung an einzelnen Stellen auf der Probenoberfläche bietet QUANTAX Compact30 leistungsstarke Linescan- und Mapping-Funktionen, um die Analyse und Berichterstellung innerhalb von Sekunden abzuschließen. Darüber hinaus speichert die HyperMap-Funktionalität alle Rohdaten, die für die spätere Nachbearbeitung auf einem beliebigen PC benötigt werden.

XFlash Silizium-Driftdetektor
ESPRIT Compact Software mit Mapping, Report, Line Scan und Spektrum (v.l.n.r.).

Hauptmerkmale

  • Hochauflösende Datenaufnahme
  • Drei verschiedene Analysemodi: Objekte, LineScan und Mapping
  • Automatische/interaktive Elementidentifikation ab Bor (5)
  • Genaue Elementquantifizierung während der Erfassung
  • Anzeige quantitativer Ergebnisse als Atom-, Gewichts- oder Oxidprozent
  • Farbkodierte Konzentrationsverteilungen (Mapping) für eine beliebige Anzahl von Elementen innerhalb eines beliebigen Probenbereiches, einschließlich einer akkuraten Peak-Trennung und Abzug des Bremsstrahluntergrundes in Echtzeit
  • Berichtsgenerierung und Druckformatierung
  • Export von Ergebnissen in MS® Word und Excel
  • Sprachoptionen: Englisch, Deutsch, Spanisch, Französisch, Russisch, Chinesisch, Japanisch