QUANTAX Compact 30

COXEM EM-30 SEM 的 EDS 系统

QUANTAX Compact30 是专为 COXEM EM-30 扫描电子显微镜设计的理想 EDS 系统。QUANTAX Compact30由其领域具有最佳能量分辨率XFlash® 硅漂移探测器(SDD),小型电子装置和易于使用的 ESPRIT Compact软件组成。定制的 XFlash® SDD 适合显微镜机箱,同时不影响其性能和占用空间。

该系统对从硼(5)到锎(98)的所有材料进行定性和定量分析。除了可以在样品表面的单个点进行成分分析外,QUANTAX Compact 30 还提供强大的线扫描和面分析功能。使用自定义检测器,分析和报告将在数秒内完成。此外,HyperMap 功能保存的所有原始数据,以后在任何计算机上进行后期处理。

XFlash 硅漂移探测器
ESPRIT Compact软件,具有元素面分析、报告、线扫描和光谱(从左到右)。

主要功能

  • 高分辨数据采集
  • 三种不同的分析模式:选区分析、线扫描和面分析
  • 自动/交互式元素识别从硼(5) 开始
  • 采集过程中精确量化元素成分
  • 将定量结果显示为原子、重量或氧化物百分比
  • 任意视野中任意数量的元素(颜色编码浓度分布),包括独特的实时谱峰剥离和背景去除
  • 报表生成和打印格式
  • 支持 MS® Word 和 Excel 导出结果
  • 与 ESPRIT 文件兼容
  • 语言选项: 英语, 德语, 西班牙语, 法语, 俄语, 中文, 日语