适用于台式扫描电子显微镜的集成能谱分析（EDS）解决方案
适用于日常实验室使用的直观、即插即用型 EDS 系统
布鲁克提供一系列集成式能量色散X射线光谱（EDS）系统，专为台式和桌面型扫描电子显微镜上的常规元素分析而设计。
这些能谱仪专为日常实验室使用而设计，可在台式扫描电子显微镜上支持快速的定量和定性元素分析、元素面分布以及线扫描。
一应俱全的 EDS 分析套装
每套 EDS 分析系统均包含 XFlash® 硅漂移探测器、信号处理电子元件以及直观的软件，专为即插即用而开发：
- 珀尔帖制冷的 XFlash® 硅漂移探测器提供业界领先的能量分辨率，运行稳定且无振动，无需液氮。
- 紧凑型电子系统支持高分辨率数据采集，并通过标准以太网接口连接至主机电脑。
- ESPRIT Compact 软件，用于 EDS 数据处理、分析和报告生成。
A complete EDS solution for desktop SEMs
元素分析与面分布
我们的 EDS 软件包可对从硼到重元素进行定性与定量元素分析。
可进行点分析、线扫描和元素面分布分析，既能进行局部成分测量，也能进行空间分辨的化学表征。
ESPRIT Compact 软件
ESPRIT Compact 软件为数据采集、可视化、定量和报告生成提供了统一操作环境。
核心功能包括自动和手动峰识别、去卷积、无标准定量、实时元素成像以及报告生成。
专为台式 SEM 集成而设计
我们的 EDS 套件经过专门设计，可与众多制造商的台式和桌面型扫描电子显微镜兼容。
提供多种系统配置，可匹配特定的 SEM 型号和制造商，实现即插即用。
如需了解更多信息，请联系我们的 EDS 专家。
