QUANTAX Compact30 是专为 COXEM EM-30 扫描电子显微镜设计的理想 EDS 系统。QUANTAX Compact30由其领域具有最佳能量分辨率XFlash® 硅漂移探测器(SDD),小型电子装置和易于使用的 ESPRIT Compact软件组成。定制的 XFlash® SDD 适合显微镜机箱,同时不影响其性能和占用空间。
该系统对从硼(5)到锎(98)的所有材料进行定性和定量分析。除了可以在样品表面的单个点进行成分分析外,QUANTAX Compact 30 还提供强大的线扫描和面分析功能。使用自定义检测器,分析和报告将在数秒内完成。此外,HyperMap 功能保存的所有原始数据,以后在任何计算机上进行后期处理。
主要功能