콴탁스 콤팩트30
COXEM EM-30 SEM용 EDS 시스템
QUANTAX Compact30은 COXEM EM-30 스캐닝 전자 현미경을 위해 특별히 설계된 이상적인 EDS 시스템입니다. QUANTAX Compact30은 자사 분야에서 최고의 에너지 해상도를 갖춘 XFlash® 실리콘 드리프트 검출기(SDD)로 구성되어 있으며, 소형 전자 장치와 사용하기 쉬운 ESPRIT 컴팩트 소프트웨어로 구성되어 있습니다. 사용자 정의 XFlash® SDD는 성능과 발자국을 손상시키지 않으면서 현미경 섀시 내에 적합합니다.
이 시스템은 붕소 (5)에서 칼리포늄 (98)에 이르기까지 요소 범위의 모든 재료의 질적 및 정량적 분석을 수행합니다. QUANTAX Compact30은 샘플 표면의 개별 스팟에서의 컴포지션 분석 외에도 강력한 라인 스캔 및 스펙트럼 요소 매핑 기능을 제공하여 몇 초 내에 분석 및 보고를 완료합니다. 또한 HyperMap 기능은 모든 컴퓨터에서 나중에 사후 처리를 위해 모든 원시 데이터를 저장합니다.
XFlash 실리콘 드리프트 검출기
매핑, 보고서, 라인 스캔 및 스펙트럼(왼쪽에서 오른쪽)이 있는 ESPRIT 컴팩트 소프트웨어입니다.
주요 기능
- 고해상도 데이터 수집
- 세 가지 분석 모드: 개체, LineScan 및 매핑
- 붕소에서 시작하는 자동/대화형 요소 식별 (5)
- 획득 시 정확한 요소 정량화
- 정량적 결과를 원자, 중량 또는 산화물 백분율로 표시
- 고유한 라이브 피크 분리 및 배경 제거를 포함하여 임의의 시야 내의 모든 요소에 대한 색상 코드 농도 분포(요소 맵)
- 보고서 생성 및 인쇄 서식
- MS® 워드 및 엑셀로 결과 내보내기
- 언어 옵션: 영어, 독일어, 스페인어, 프랑스어, 러시아어, 중국어, 일본어