Gleichzeitige Erfassung chemischer und kristallographischer Informationen im REM mit einzigartigen On-Axis-Detektoren

Schnellste simultane TKD- und EDS-Messungen

Brukers einzigartiger XFlash® FlatQUAD EDS-Detektor mit einem enormen Raumwinkel von bis zu 1,1 sr kann gleichzeitig mit OPTIMUS 2 zur Aufnahme von Mappings, die chemische Informationen und Kristallorientierungsdaten elektronentransparenter Proben enthalten, verwendet werden. Die Aufnahmen erfolgen mit bisher unerreichter räumlicher Auflösung und unübertroffener Geschwindigkeit.

Exakte quantitative EDS-Analysen können mit Methoden durchgeführt werden, die für elektronentransparente Proben entwickelt wurden:

  • Cliff-Lorimer-Faktor-Methode
  • Zeta-Faktor-Methode

Kombinierte EDS- und TKD-Messungen eignen sich ideal zur Charakterisierung wenig bekannter Proben, die mehrere kristallographische Phasen, z. B. Ausscheidungen und/oder Einschlüsse, enthalten. Der kombinierte Datensatz kann höchst effizient für die Offline-Phasenidentifizierung und -neuanalyse  verwendet werden. Dieser Effizienzgewinn wird durch die Fähigkeit von ESPRIT 2 ermöglicht bis zu 60.000 Kikuchi Pattern/Sek. indizieren zu können.

Detektor-Probengeometrie für simultane On-Axis TKD- und EDS-Mapping mit XFlash FlatQUAD EDS-Detektor (oben), OPTIMUS 2-Detektorkopf (unten) und TKD-Probenhalter (Mitte)