独自のオンアクシス検出器を用いたSEMでの結晶学的情報と元素情報の同時取得

最速のTKDとEDSの同時測定

最大1.1 srの超高立体角を備えたBruker独自のXFlash® FlatQUAD EDS検出器は、 OPTIMUS 2 と同時に使用することによって、比類のない空間分解能と速度で電子透過性サンプルから化学および結晶方位データを含むマップを取得できます。

電子透過性試料用に考えられた手法を用いて、正確な定量EDS分析を行うことができます。

クリフ・ロリマー因子法

ゼータ因子法

EDSとTKDの組み合わせ測定は、複数の結晶学的相(例えば沈殿および/または含有物)を含むほとんど知られていないサンプルの特性評価に理想的な測定です。結合されたデータセットは、オフラインフェーズの識別と再分析に使用でき、最大 60,000 パターン/秒のインデックス作成するESPRIT2の機能により 、大幅な効率向上を実現します。

XFlash FlatQUAD EDS検出器(上)、OPTIMUS2検出器ヘッド(下)、TKDサンプルホルダー(中央)を使用した同時オンアクシスTKD とEDSマッピングの検出器-サンプルの位置関係