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Eine neue Ära in der Mikro-RFA

Das M4 TORNADOPLUS ist das weltweit erste Mikro-RFA-Spektrometer, das den Nachweis und die Analyse des gesamten Elementspektrums von Kohlenstoff bis Americium ermöglicht. Als neuestes Mitglied der bewährten, marktführenden Familie von M4 TORNADO Mikro-RFA-Spektrometern bietet das M4 TORNADO PLUS zusätzliche einzigartige Merkmale, wie ein innovatives Blendensystem, einen Impulsprozessor mit ultrahohem Durchsatz und einen flexiblen, schnell wechselbaren Probentisch.

Detektion superleichter Elemente - bis hinunter zum Kohlenstoff

Ausgestattet mit zwei großflächigen Silizium-Drift-Detektoren mit Superleichtelementfenster und einer speziell optimierten Rh-Röntgenröhre ist das M4 TORNADOPLUS das erste Mikro-RFA-Spektrometer überhaupt, das die Analyse leichter Elemente ermöglicht. Im Gegensatz zu herkömmlichen Mikro-RFA-Systemen, die für den Nachweis von Elementen ab Natrium aufwärts geeignet sind, erlaubt das M4 TORNADOPLUS auch die Messung von Elementen mit Ordnungszahlen Z < 11, wie Fluor, Sauerstoff, Stickstoff und Kohlenstoff, ohne die Leistung und Empfindlichkeit in den höheren Energiebereichen zu beeinträchtigen. Mit dieser Leistungssteigerung eröffnen sich neue Anwendungen für die Mikro-RFA, z.B. in den Geowissenschaften und im Bergbau, in der Biologie, in der Polymerforschung oder in der Halbleiterindustrie.

Doppelter Durchsatz – für schnellere Messungen

Bereits die früheren Doppeldetektor-Versionen des M4 TORNADO waren in dieser Hinsicht richtungsweisend, da sie eine Ausgangszählrate von bis zu 260 kcps bei ausgezeichneter Energieauflösung lieferten. Mit seiner einzigartigen Fähigkeit, eine Eingangszählrate von bis zu 1200 kcps zu verarbeiten und eine Ausgabezählrate von bis zu 550 kcps zu liefern, verschiebt das the M4 TORNADOPLUS diese Grenzen noch deutlich weiter und ermöglicht eine unübertroffene Analysengeschwindigkeit und Produktivität.

Aperture Management System (AMS) - für bessere Tiefenschärfe und Auflösung

Viele Proben, die mit der Mikro-RFA untersucht werden sollen, haben topographische Oberflächen und sind nicht perfekt eben. Daher wird die Schärfentiefe, genau wie in der Fotografie, zu einem wichtigen Parameter für das röntgenoptische System, mit dem der kleine Anregungsfleck auf der Probenoberfläche erzeugt wird. In der Regel darf bei Mikro-RFA-Analysatoren mit hoch ortsauflösender Röntgenoptik der Arbeitsabstand nur wenige mm betragen, und die erreichbare Tiefenschärfe liegt unter 1 mm.

Das innovative, softwaregesteuerte Blendenmanagementsystem (AMS) des M4 TORNADOPLUS ermöglicht einen Arbeitsabstand von ca. 9 mm und bietet eine Tiefenschärfe von bis zu ca. 5 mm. Das bedeutet, dass die räumliche Auflösung nicht verloren geht und die Probenmerkmale im Fokus bleiben, auch wenn die Probenoberfläche in der Höhe über mehrere Millimeter variiert. So wird das M4 TORNADOPLUS zum Instrument der Wahl für die Analyse von Proben mit starker Topographie, z.B. in der Elektronik, Forensik oder Geowissenschaft.

Schneller Probenaustausch - für eine einfachere und sicherere Probenhandhabung

Das M4 TORNADOPLUS bietet eine Schnellwechsel-Tischaufnahme und optional spezielle Bohrkern- und Dünnschliffträger. Mit diesem Zubehör lassen sich die Proben für eine schnelle und sichere Analyse (oder Wiederholungsmessungen) einfach und schnell auf dem abnehmbaren Probentisch platzieren und fixieren oder austauschen. Dies spart Zeit sowohl beim Probenwechsel als auch beim Messaufbau, da sich die Proben immer in der gleichen Höhe und Position befinden.

M4 TORNADO PLUS: Mikro-RFA-Spektrometer für superleichte Elemente

Zweiter Röntgenröhren-Kollimatorwechsler - mehr Flexibilität bei der Analyse von Röntgenlinien in höheren Energiebereichen

Die optionale zweite Feinfokus-Röntgenröhre des neuen M4 TORNADO PLUS ist mit einem vollständig softwaregesteuerten Vier-Positionen-Kollimatorwechsler ausgestattet, der die Spotgröße von 500 µm auf 4,5 mm flexibel erweitert. Dies ermöglicht die Einstellung eines kleinen Spots mit geringerer Intensität oder eines großen hochintensiven Spots für Analysen, die vergleichbar mit der konventionellen RFA sind. Das Ergebnis ist mehr Flexibilität bei der Analyse größerer Strukturen oder bei der Arbeit mit hochenergetischen Röntgenlinien.

Multifunktionale, computergesteuerte Helium-Spülung - Analyse leichter Elemente ohne Vakuum

Die Messung unter Vakuum stellt für bestimmte Proben ein Problem dar, da diese empfindlich auf Druckschwankungen reagieren oder austrocknen können. Obwohl das Arbeiten an Luft immer möglich ist, wird die Röntgenfluoreszenzintensität leichter Elemente unterhalb von Ca stark abgeschwächt oder sogar vollständig absorbiert. Um leichte und superleichte Elemente bis hinunter zu Kohlenstoff auch in vakuumsensitiven Proben nachzuweisen, bietet das M4 TORNADOPLUS ein optionales, computergesteuertes Helium-Spülsystem zur Erweiterung des Analysebereichs unter Atmosphärendruck. Je nach den spezifischen analytischen Anforderungen können zwei verschiedene Szenarien zur Füllung der Probenkammer mit Helium gewählt werden. Für eine schnelle Einzel- oder Mehrpunktanalyse reicht eine lokale Spülung der Messposition mit hohem Helium-Durchfluss aus, um die niederenergetischen Röntgenstrahlen zuverlässig zu erfassen.

Mehr Informationen

M4 TORNADOPLUS (PDF, Englisch)