M4 TORNADO PLUS

C

Niedrigstes nachweisbares Element

Alle Elemente ab Kohlenstoff aufwärts können gemessen werden

>6

µm

Schärfentiefe mit AMS

Das Blendenmanagementsystem (AMS) ermöglicht ein scharfes Bild auf topografischen Proben

0,5 - 4,5

mm

Wählbare Kollimatorgröße

Vier-Positionen-Kollimatorwechsler der sekundären Röntgenröhre

Das revolutionäre Super-Leichtelement Mikro-RFA Spektrometer

Mit dem neuesten Modell der Bruker Mikro-RFA-Familie können Sie mehr über Ihre Probe erfahren, als Ihnen die RFA jemals zuvor gezeigt hat.

Mit seinen Super-Leichtelementdetektoren ist das M4 TORNADO PLUS der erste micro-XRF Scanner, der jedes Element ab Kohlenstoff aufwärts messen kann. Darüber hinaus wird die Sensitivität aller leichten Elemente stark erhöht.

Für dieses Instrument führte Bruker das patentierte Blendenmanagementsystem (Aperture Management System AMS) ein, das die Schärfentiefe der Polykapillarlinse verbessert, um schärfere Element-Maps von unebenen Proben zu erhalten. Die optionale zweite Röntgenquelle erweitert die analytischen Möglichkeiten mit vier wählbaren Spotgrößen von 0,5 bis 4,5 mm.

Leichter, schneller, tiefer.

Die Kammer der M4 TORNADO Instrumentfamilie bietet eine optionale Heliumspülung. Dies erhöht die Sensitivität für leichte Elemente bei gleichzeitiger Aufrechterhaltung des atmosphärischen Drucks in der Kammer. Leichtelemente in biologischen oder feuchten Proben können analysiert werden, ohne dass diese Proben gefroren oder getrocknet werden müssen.

Kontaktieren Sie uns Broschüre herunterladen (EN)

M4 TORNADO PLUS: Super-Leichtelement Mikro-RFA Spektrometer

Profitieren Sie vom PLUS an analytischer Leistung

Messen Sie Feststoffe, Partikel oder Flüssigkeiten mit allen Vorteilen, die die bewährte M4 TORNADO Instrumentfamilie zu bieten hat
Erweitern Sie Ihre Erfahrungen im Bereich der mikro-RFA mit der Möglichkeit, Spektren, Linienprofile und Maps des gesamten Elementbereichs ab Kohlenstoff aufzunehmen
Zeichnen Sie eine Kombination aus Kamerabild und vollständigen spektralen Informationen pro Pixel in einem HyperMap-Datenwürfel
Reduzieren Sie Ihre Messzeit durch die Kombination des fokussierten Röntgenstrahls mit zwei Hochdurchsatz-Superelichtelement-SD-Detektoren
Erhalten Sie schnelle Quantifizierungsergebnisse mit einer konfigurierbaren Fundamentalparameter-Routine oder verwenden Sie die XMethod-Software von Bruker zur standardgestützten-, vollständig standardbasierten- und Schichtdickenquantifizierung
Nehmen Sie Maps unebener Proben mit Hilfe des Blendenmanagement-systems (AMS) mit hoher Schärfentiefe auf
Verbessern Sie die Leistung mit Upgrades und Servicepaketen über die gesamte Lebensdauer des Instruments