Bruker Nano Analytics presents: 

Recenti evoluzioni nella strumentazione per analisi non invasive sulle opere d’arte. Strumenti portatili, mapping e combinati.

Sessione su richiesta -  90 Minuti

Tecnica XRF nelle analisi delle opere d'arte 

XRF è una tecnica analitica che permette di ottenere analisi elementari su oggetti d’arte ed è considerata una tecnica core negli studi sulle opere artistiche. I dati ottenuti vengono processati e utilizzati per varie attività dalla conservazione e restauro fino alla ricostruzione della “storia” di un oggetto artistico. 

Bruker è molto attiva in questo ambito e offre un intero portafoglio di strumentazione per analisi di laboratorio o in campo partendo da strumenti leggeri e ultra portatili fino ai più sofisticati strumenti di mapping. 

Al portafoglio d’offerta già vasto e variegato si è recentemente affiancata una linea di prodotti direttamente realizzati in stretto collegamento con i nostri uffici di Ricerca e Sviluppo con la finalità di esplorare la combinazione della tecnica XRF con tecniche di analisi complementari. Nelle misure effettuate si individua un unico soggetto in analisi (puntuale o di superficie) che viene posto sotto analisi con un unico strumento.

Nel corso del webinar tratteremo delle novità relative al nostro portafoglio di strumentazione e introdurremo la nuova linea di prodotti. Ascolteremo poi la testimonianza diretta di due importanti Scienziate che ci racconteranno le loro sfide nell’approntare un laboratorio di ricerca in condizioni particolari e le soluzioni trovate.

L’agenda si compone quindi come di seguito:

  • Recenti evoluzioni nella strumentazione per analisi non invasive sulle opere d’arte 
    Michele Gironda 
  • Novità dai nostri laboratori R&D: combinando l’ XRF con tecniche di analisi complementari
    Alessandro Tocchio
  • Strumentazione portatile e archeologia da campo: sfide tecniche e prospettive di ricerca
    Claudia Sciuto e Simona Raneri 

 

 

Iniziativa promossa da AIAR

A chi è rivolto?

  • Ricercatori, professionisti e studenti in ambito Cultural Heritage
  • Archeologi o Scienziati nell’Arte attivi in situ in contesti di analisi su manufatti artistici
  • Tutti coloro interessati ad approfondire la propria conoscenza nella strumentazione per analisi micro-XRF in analisi su opere d’arte in genere.

Michele Gironda

Head of Global Segment Management, Bruker Nano Analytics

Alessandro Tocchio
Sales Manager, XGLab/Bruker

Claudia Sciuto 
Dipartimento di Civilità e Forme del Sapere, Università di Pisa

 

Simona Raneri
ICCOM-CNR, Pisa

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