XRF è una tecnica analitica che permette di ottenere analisi elementari su oggetti d’arte ed è considerata una tecnica core negli studi sulle opere artistiche. I dati ottenuti vengono processati e utilizzati per varie attività dalla conservazione e restauro fino alla ricostruzione della “storia” di un oggetto artistico.
Bruker è molto attiva in questo ambito e offre un intero portafoglio di strumentazione per analisi di laboratorio o in campo partendo da strumenti leggeri e ultra portatili fino ai più sofisticati strumenti di mapping.
Al portafoglio d’offerta già vasto e variegato si è recentemente affiancata una linea di prodotti direttamente realizzati in stretto collegamento con i nostri uffici di Ricerca e Sviluppo con la finalità di esplorare la combinazione della tecnica XRF con tecniche di analisi complementari. Nelle misure effettuate si individua un unico soggetto in analisi (puntuale o di superficie) che viene posto sotto analisi con un unico strumento.
Nel corso del webinar tratteremo delle novità relative al nostro portafoglio di strumentazione e introdurremo la nuova linea di prodotti. Ascolteremo poi la testimonianza diretta di due importanti Scienziate che ci racconteranno le loro sfide nell’approntare un laboratorio di ricerca in condizioni particolari e le soluzioni trovate.
L’agenda si compone quindi come di seguito:
Iniziativa promossa da AIAR
Michele Gironda
Head of Global Segment Management, Bruker Nano Analytics
Alessandro Tocchio
Sales Manager, XGLab/Bruker
Claudia Sciuto
Dipartimento di Civilità e Forme del Sapere, Università di Pisa
Simona Raneri
ICCOM-CNR, Pisa
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