QUANTAX ED-XS
La simplicidad ofrece una ciencia asequible
EBSD fiable y asequible
También disponible en la mesa SEM
Completo
poder analítico
Cubre más del 95% de las solicitudes
Los detectores e-Flash XS y XFlash 630M están totalmente integrados bajo la suite de software ESPRIT
Bajo
costes iniciales de inversión
EBSD para SEM de bajo tamaño y bajo costo
El detector e-Flash XS EBSD se puede instalar con un espacio bajo y SEM asequibles sin hacerlos irrazonablemente caros
Bajo
costo de propiedad
Baja probabilidad de fallo y bajo tiempo de inactividad
El e-Flash XS está alimentado por una cámara CMOS de alta confiabilidad. En el escenario muy improbable de fallo de la cámara, el detector e-Flash XS será reemplazado en cuestión de días por una unidad de campo.
La simplicidad ofrece una ciencia asequible
QUANTAX ED-XS es un nuevo paquete de productos que combina el nuevo y único detector eFlash XS EBSD con el robusto detector XFlash® EDS bajo la versátil suite de software ESPRIT. Esta combinación de hardware y software es un nuevo enfoque para proporcionar potentes herramientas analíticas a la comunidad de microscopía más grande a la que hasta ahora no se le han ofrecido capacidades de EBSD. Estos son sus beneficios:
- Costo de inversión inicial mucho menor
- Tiempo de inactividad muy bajo: reemplazo de detectores in situ en cuestión de días
- Opciones de contrato de servicio asequible
- EBSD fácil de usar: no requiere calibración y pantalla reemplazable por el usuario
- Funcionamiento seguro: cuando no está en uso hay 0% de probabilidad de colisión accidental con la etapa SEM u otros instrumentos dentro de la cámara SEM
¿Por qué necesito EBSD en mi Tabletop o W-SEM?
- Tamaño de grano semiautomático y distribución de formas
- Análisis cuantitativo de microestructuras utilizando subconjuntos
- Fracción de área/volumen de granos deformados frente a granos recristalizados
- Análisis de límites de grano
- Identificación de fase y análisis de distribución
- Correlación de resultados químicos y cristalográficos
- Distribución de orientación – análisis de textura cristalográfica
