QUANTAX ED-XS
シンプルで身近な分析を
信頼できる低価格EBSD
卓上SEMでも利用可能
完全
な分析力
95%以上のアプリケーションをカバー
EDS用のeFlash XS および EBSD用のXFlash 630M 検出器は、ESPRIT ソフトウェア で完全に統合されています。
低
初期投資コスト
低フットプリントおよび低コストSEMのためのEBSD
e-Flash XS EBSD検出器は、低フットプリントで手頃な価格のSEMに、不当に高い費用をかけずに搭載することができます。
低
所有コスト
故障の可能性が低く、ダウンタイムが少ない
e-Flash XSは高信頼性のCMOSカメラを搭載しています。カメラの故障時には簡単に交換可能です。
シンプルさでお手頃な価格
QUANTAX ED-XS は、新しくユニークなeFlash XS EBSD検出器とXFlash® EDS 検出器を、汎用性の高いESPRITソフトウェア の下で組み合わせた新製品パッケージです。このハードウェアとソフトウェアの組み合わせは、これまで EBSD 機能を有していなかった顕微鏡ユーザーの大規模なコミュニティに強力な分析ツールを提供する新しいアプローチです。その利点は次のとおりです。
- 初期投資コストの大幅な削減
- 非常に少ないダウンタイム：数日以内に現場で検出器を交換
- 手頃な価格のサービス保守契約
- 使いやすい EBSD：キャリブレーションが不要 & ユーザーにてスクリーンの交換可能
- 安全な操作：使用していない時のSEMチャンバー内の他の機器やSEMステージとの衝突を回避
なぜ卓上SEMや汎用SEMにEBSDが必要なのでしょうか?
- 半自動の粒径・形状分布測定
- サブセット化による微細構造の定量分析
- 変形粒と再結晶粒の面積/体積分率
- 粒界解析
- 相同定および分布解析
- 化学的な結果と結晶学的な結果との相関
- 配向分布 – 結晶方位解析
