Analisadores de Microscópio Eletrônico

QUANTAX ED-XS

Simplicidade Oferece Ciência Acessível

EBSD Confiável e Acessível

Também disponível no SEM de mesa

Full
poder analítico
Cobre mais de 95% das aplicações
Os detectores eFlash XS e XFlash 630M são totalmente integrados ao pacote de software ESPRIT
Low
custos de investimento inicial
EBSD para SEMs de baixo impacto e baixo custo
O detector eFlash XS EBSD pode ser instalado em SEMs baratos e acessíveis sem torná-los excessivamente caros
Low
custo de propriedade
Baixa probabilidade de falha e baixo tempo de inatividade
O eFlash XS é alimentado por uma câmera CMOS de alta confiabilidade. No cenário muito improvável de falha da câmera, o detector e-Flash XS será substituído em poucos dias por uma unidade de campo.

Simplicidade Oferece Ciência Acessível

O QUANTAX ED-XS é um novo pacote de produtos que combina o novo e exclusivo detector eFlash XS EBSD com o robusto detector XFlash® EDS sob o versátil pacote de software ESPRIT. Essa combinação de hardware e software é uma nova abordagem para fornecer ferramentas analíticas poderosas para a comunidade de microscopia maior, que não recebeu recursos de EBSD até agora. Aqui estão seus benefícios:

  • Custo de investimento inicial muito menor
  • Tempo de inatividade muito baixo: substituição do detector no local em poucos dias
  • Opções de contrato de serviço acessíveis
  • EBSD fácil de usar: sem necessidade de calibração e tela substituível pelo usuário
  • Operação segura: quando não estiver em uso, há 0% de chance de colisão acidental com o estágio SEM ou outros instrumentos dentro da câmara SEM

Por que preciso de EBSD no meu Tabletop ou W-SEM?

  • Distribuição semiautomática de tamanho de grão e forma
  • Análise quantitativa de microestruturas usando subconjunto
  • Fração de área/volume de grãos deformados vs. recristalizados
  • Análise de limite de grão
  • Identificação de fase e análise de distribuição
  • Correlação de resultados químicos e cristalográficos
  • Distribuição de orientação - análise de textura cristalográfica