M6 JETSTREAM

2x60

mm²

Tamaño SDD

Opción de detector de deriva de silicio dual para una adquisición más rápida

80x60

cm²

Superficie escaneable

Mapeo de muestras más grandes en una sola ejecución

100-500

µm

Tamaño de punto ajustable

El tamaño del punto se puede ajustar en cinco pasos para que coincida con la estructura de la muestra

La vanguardia en micro-XRF de grandes áreas

Micro-XRF en muestras grandes (también llamado macro-XRF o MA-XRF) se ha convertido en un método decisivo para el análisis de pinturas, muestras geológicas, artefactos arqueológicos y componentes industriales. El M6 JETSTREAM conduce estos análisis a la máxima velocidad y con la mayor precisión. Con su distancia entre ejes móvil y el marco ajustable, el M6 JETSTREAM se puede utilizar in situ en lugar de transportar la muestra al laboratorio.

Medición de muestras verticales o superficies horizontales
Superficie escaneable hasta 800 x 600 mm²
Análisis "sobre la marcha" para mayor velocidad de mapeo
Tamaño del punto ajustable para que coincida con la estructura de la muestra
Tecnología XFlash® SDD con un área de detector de hasta 2 x 60 mm²
Sistema de gestión de apertura opcional (AMS) para obtener profundidad de enfoque en superficies irregulares

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¿Qué puede esperar del M6 JETSTREAM?

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)

Obtención de información con resolución espacial sobre la distribución elemental de casi cualquier superficie
Registro de datos en grandes ares en una sola ejecución
Combinación imágenes ópticas de alta resolución con un espectro completo por píxel en un cubo de datos HyperMap
Procesamiento de datos y extracción de espectros de objetos, escaneos de línea y fases químicas de mapas
Cuantificación de espectros utilizando métodos de parámetros fundamentales (FP) sin estándares
Reducción del costo y el tiempo evitando el transporte y garantizando la seguridad de objetos valiosos

Descubra la amplia gama de muestras mico-XRF

Técnicas

Velocidad de platina de hasta 100 mm/s	El mapeo se puede llevar a cabo "sobre la marcha" con tiempos de permanencia de hasta 1 ms por píxel
SDD de 30 mm² o 60 mm² con ≤145 eV	El M6 JETSTREAM puede equiparse con diferentes detectores Bruker XFlash^®, todos especificados con ≤145 eV en Mn K
±10° de inclinación en el modo de medición vertical	Además de la inclinación de 90° entre la medición horizontal y vertical, la plataforma se puede inclinar en intervalos pequeños para ajustarse a la superficie inclinada