DIFFRACTION des rayons X (DRX)

D8 ADVANCE Plus

Emmener le D8 ADVANCE au-delà de la poudre.
HerostageD8ADVANCE

Faits marquants

Le D8 ADVANCE Plus: Recherche polyvalente sur les matériaux

photons/s >1x10¹²
Capacité de comptage de l’EIGER2 R 500K
L’EIGER2 R 500K possède la plus grande plage dynamique permettant des mesures sans absorbeur avec un signal/bruit régulier.
3x2
Optiques TWIN et TRIO
Commutation entièrement automatique entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents
4
Axes centriques
Le Compact Cradle Plus fait passer le D8 ADVANCE de 2 à 4 axes avec l’ajout de Phi et Psi.
La garantie d’alignement unique de Bruker
Pour en savoir plus

D8 ADVANCE Plus - La flexibilité maximale associée à une facilité d’utilisation inégalée

Le D8 ADVANCE Plus est une variante du D8 ADVANCE représentant la plate-forme de rayons X ultime pour les laboratoires polyvalents et multi-utilisateurs. Le système correspond parfaitement aux besoins de tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les films et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées):

  • Diffraction traditionnelle de rayon X sur poudre (DRX)
  • Analyse de la fonction de distribution de paires (PDF)
  • Diffusion des rayons X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)
  • XRR (réflectométrie) et HRXRD (rocking curve, cartographie du réseau réciproque) dans des conditions ambiantes et non ambiantes.

La vraie beauté du système est sa capacité à basculer entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents, de la géométrie Bragg-Brentano pour les poudres à la géométrie faisceau parallèle monochromatique haute résolution pour les films minces épitaxiés. Entièrement contrôlé par logiciel, il vous suffit d´un clic.

Quel que soit le type d’échantillon et l’application, que vous soyez novice ou expert, le D8 ADVANCE Plus définit une nouvelle référence pour la qualité de données grâce à sa flexibilité inégalée et sa facilité d’utilisation.

Caractéristiques

Caractéristiques clés

Caractéristiques du D8 ADVANCE Plus

Optique TRIO

L’optique brevetée TRIO simplifie l’utilisation du D8 ADVANCE, permettant la plus grande variété d’applications et de types d’échantillons. Avec la commodité de l’utilisateur à l’esprit, le système dispose d´une commutation  automatique motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents. Sans intervention manuelle de l’utilisateur, le système est capable de basculer entre trois chemins optiques :

  • Géométrie focalisante Bragg-Brentano pour les poudres
  • Faisceau parallèle de haute intensité Kα1,2 pour capillaire, GID et XRR
  • Géométrie Kα1 à faisceau parallèle haute résolution pour les couches minces épitaxiées

Il convient parfaitement à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallinees et épitaxiées) dans des conditions ambiantes ou non ambiantes.

Caractéristiques du D8 ADVANCE Plus

Les platines échantillons de la recherche sur les matériaux

Le Compact UMC et le Compact Cradle Plus étendent la capacité de traitement des échantillons du D8 ADVANCE Plus, permettant un mouvement complexe et précis de l'échantillon. La platine Compact UMC dispose d'un mouvement motorisé de 25 mm en X, 70 mm en Y et 52 mm en Z avec une capacité de charge de 2 kg pour l'analyse de grands échantillons massifs ou de plusieurs échantillons plus petits. Le Compact Cradle Plus comprend une rotation Phi illimitée et une inclinaison Psi de -5 ° à 95 ° pour l'analyse des contraintes, de la texture et des couches minces épitaxiées. De plus, le Compact Cradle Plus dispose d'un conduit pouvant être relié à une pompe à vide permettant de maintenir par succion les échantillons en place sur le porte-échantillon dédié couches minces ou sur la grande table XY manuelle. Les deux platines peuvent accueillir les chambres en température de type dôme pour une analyse en conditions non ambiantes. Elles utilisent également le système de montage à baïonnette DIFFRAC.DAVINCI pour un changement facile des platines.

Caractéristiques du D8 ADVANCE Plus

Détecteurs EIGER2 R

La fonctionnalité multimode (0D-1D-2D, mode instantané et balayage) permet à les EIGER2 R détecteurs de couvrir un large éventail de méthodes de mesure allant de la poudre aux applications de recherche sur les matériaux. Véritable touch à tout , l’EIGER2 est un maître de toutes les applications. Avec une plage dynamique qui permet des mesures sans atténuateur, une grande ouverture 2Ɵ pour les mesures de poudre et les cartographies du réseau réciproque ultra rapides et plus de 500k pixels pour une grande couverture bidimensionnelle, l’EIGER2 établit une nouvelle référence pour les détecteurs multimodes. L’EIGER2 combine la technologie de détecteur pour graands instruments de DECTRIS Ltd. avec l’intégration logicielle et matérielle de BRUKER en une solution conviviale facile à utiliser.

Applications

Un diffractomètre - Toutes les applications

Applications du D8 ADVANCE Plus

Diffraction de poudre

Les techniques de diffraction des rayons X (DRX) des poudres sont parmi les outils les plus importants pour la caractérisation des matériaux. Une grande partie des informations contenues dans un modèle de poudre est dérivée directement de l’arrangement atomique des phases présentes. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent l’exécution aisée des taches classiques de la DRX :

  • Identification des phases cristallines et amorphes et détermination de la pureté de l’échantillon
  • Analyse quantitative des phases cristallines et amorphes dans les mélanges multiphasés
  • Analyse microstructurale (taille de cristallite, micro-contrainte, désordre...)
  • Contrainte résiduelle de massifs résultant du traitement thermique ou de l’usinage des composants manufacturés
  • Analyse de la texture (orientation préférentielle)
  • Indexation, détermination ab-initio et raffinement de la structure cristalline
Applications du D8 ADVANCE Plus

Analyse de la contrainte résiduelle et de la texture

Les mesures de contrainte résiduelle et de texture sont régulièrement réalisées sur des échantillons de métaux industriels où les matériaux sont poussés à leurs limites. En reduisant la contrainte de traction ou en induisant une contrainte de compression à la surface d'un échantillon, sa durée de vie fonctionnelle peut être considérablement prolongée. Cela peut être fait par des traitements thermiques ou des processus physiques tels que le grenaillage. L'orientation des cristallites qui composent un échantillon massif dicte la manière dont les fissures se propageront. En formant des textures spécifiques dans un matériau, ses propriétés peuvent être considérablement améliorées. Ces deux techniques sont également importantes pour optimiser les méthodes de fabrication de pointe telles que la fabrication additive (impression 3D).

Applications du D8 ADVANCE Plus

Revêtements et couches minces

L’analyse des couches minces et des revêtements est basée sur les mêmes principes de DRX, mais avec un conditionnement du faisceau supplémentaire et un contrôle angulaire. Les exemples typiques incluent, sans s’y limiter, l’identification des phases, la qualité cristalline, la contrainte résiduelle, l’analyse de texture, la détermination de l’épaisseur et de la composition par rapport à l’analyse des contraintes. L’analyse des couches minces et des revêtements se concentre sur les propriétés des matériaux en couches d’épaisseur du nm au μm, allant des revêtements amorphes et polycristallins aux films épitaxiés. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent des analyses de haute qualité des films minces, notamment :

  • La diffraction en incidence rasante (GID)
  • La réflectométrie des rayons X (XRR)
  • La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD)
  • La cartographie du réseau réciproque (RSM)

 

 

Spécifications

Spécifications D8 ADVANCE Plus

Proprié


Spécification

Avantage

Optique TRIO

Sélection en un clic dans le logiciel entre :

Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano)

Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité

Faisceau parallèle Ka1 haute résolution

Brevets: US10429326, US6665372, US7983389

Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur

Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiques)

LYNXEYE XE-T

Résolution énergétique : < 380 eV @ 8 KeV

Modes de détection : 0D,1D, 2D

Longueurs d’onde: Cr, Co, Cu, Mo et Ag

Brevets: EP1647840, EP1510811, US20200033275

Pas besoin de filtre Kß ou de monochromateur secondaire

Filtrage à 100% de la fluorescence du fer avec le rayonnement Cu

Jusqu’à 450 fois plus rapide que les systèmes de détection conventionnels

BRAGG2D : Collecter des données 2D avec un faisceau primaire divergent issu d´un foyer linéaire

Garantie unique du détecteur : Pas de canaux défectueux à la livraison

EIGER2 R

Le détecteur multi-mode (0D/1D/2D) de dernière génération basé sur la technologie "hybrid photon counting", développé par Dectris Ltd.

Intégration transparente des données 0D, 1D et 2D collectées en mode pas, continu ou avancé

Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ

Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outils) dans le faisceau diffracté

Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution

TWIST.TUBE

Commutation facile, rapide et sans alignement entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel

Pas de déconnexion des câbles électriques ou des tuyaux d’eau ou de démontage du tube

DAVINCI.DESIGN : Détection et configuration entièrement automatiques de l’orientation du tube

Compacte UMC

X Motorisé : 25 mm

Y Motorisé : 70 mm

Z Motorisé: 52 mm

Capacité: 2 kg

Positionnement précis de la zone d’intérêt d’un échantillon dans le faisceau de RX

Montage de plusieurs échantillons pour des mesures automatiques

Compact Cradle Plus

Phi motorisé: illimité

Psi motorisé: -5° à 95°

Traversée utilitaire sous vide pour un montage sans souci de l’échantillon

La diffraction 4 axes permet les mesures de texture, le contrainte résiduelle et l´étude complète des couches minces

Goniomètre du D8

Goniomètre à deux cercles avec moteurs pas à pas indépendants et encodeurs optiques

Une précision et une justesse inégalées, comme stipulées dans la garantie l’alignement unique de Bruker

Mécanisme d’entraînement sans entretien / engrenages avec lubrification à vie

Non ambiant

Température: Allant de ~-4K jusqu’à ~2500K

Pression : 10-⁴ mbar jusqu’à 100 bars

Humidité: 5% à 95%

Mesures dans des conditions ambiantes et non ambiantes

Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI

Accessoires

Composants pour la DRX

XRD Components

Les solutions Bruker XRD sont constituées de composants haute performance configurés pour répondre aux exigences analytiques.

La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
Toutes les catégories de composants font partie des compétences clés de Bruker, développées et fabriquées par Bruker AXS, ou en étroite collaboration avec des fournisseurs tiers.

Les composants DRX Bruker sont disponibles pour mettre à niveau les systèmes de rayons X installés afin d'améliorer leurs performances.

Logiciels

PLANIFIER.MEASURER.ANALYSER avec DIFFRAC.SUITE

DIFFRAC.SUITE Software

DIFFRAC.SUITE ™ propose une large gamme de modules logiciels pour une acquisition et une évaluation faciles des données de diffraction des rayons X sur poudre. Basé sur la technologie Microsoft.NET, DIFFRAC.SUITE offre tous les avantages de la technologie logicielle moderne pour la stabilité, la facilité d'utilisation maximale et la mise en réseau.

L'interface utilisateur entièrement personnalisable est caractérisée par un cadre d’onglets, offrant une apparence, une sensation et un fonctionnement communs. Tous les modules logiciels de mesure et d'évaluation peuvent être utilisés en tant qu'applications individuelles ou intégrés ensemble dans le cadre d’onglets de DIFFRAC.SUITE. Un réseau illimité permet l'accès et le contrôle de n'importe quel nombre de diffractomètres D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER et D8 ENDEAVOR au sein du réseau d'un client.

Logiciels de Mesure:
WIZARD – Création de méthodes
COMMANDER – Exécution de méthodes et mesure en direct
TOOLS – Interface de service

Logiciels de diffraction des poudres:
DQUANT – Analyse quantitative des phases
EVA – Identification des phases et analyse quantitative
TOPAS – Analyse de profile, analyse quantitative, analyse structurale

Logiciels de recherche de matériaux:
SAXS – Logiciel pour la diffusion aux petits angles
XRR – Analyse complète de réflectométrie
TEXTURE – L’analyse de texture devient facile
LEPTOS – Analyse de couche mince / Evaluation des contraintes résiduelles

Webinaires

Support

Service et support

Nous fournissons :

  •  Assistance dépannage par des professionnels hautement qualifiés pour isoler et résoudre les problèmes matériels et logiciels
  • Service de support à distance (interface Web) pour le diagnostic des pannes et le support applicatif
  • Support à distance - un ingénieur virtuel à vos côtés (vidéo)
  • Maintenance planifiée, selon vos besoins
  • Service de réparation et de maintenance sur site
  • Disponibilité des pièces de rechange généralement pendant la nuit ou en quelques jours ouvrables dans le monde entier
  • Services de conformité pour la qualification de l'installation, la qualification opérationnelle / la vérification des performances
  • Planification du site et relocalisation des instruments
  • Trouvez votre prochaine formation

Consultez notre site web de support pour :

  • Mises à jour logicielles
  • Manuels utilisateure et guides d’installation
  • Vidéos de formation

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