D8 ADVANCE

La conception brevetée de chemin optique TWIN / TWIN simplifie grandement l’utilisation du D8 ADVANCE, permettant une grande variété d’applications et de types d’échantillons. Avec la commodité de l’utilisateur à l’esprit, le système dispose d´une commutation automatique- motorisée entre 4 géométries de faisceau différents. Sans intervention manuelle de l’utilisateur, le système est capable de passer de la focalisation Bragg-Brentano pour les poudres à la géométrie de faisceau parallèle pour les échantillons irréguliers, les revêtements et les films minces. Il convient parfaitement à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les films et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées) dans des conditions ambiantes ou non ambiantes.

Le LYNXEYE XE-T est le fleuron de la famille des détecteurs LYNXEYE. Le LYNXEYE XE-T est le seul détecteur à dispersion en énergie sur le marché pour l’acquisition de données 0D, 1D et 2D. Adapté à toutes les longueurs d’onde (du Cr à l´Ag), avec la capacité de comptage la plus élevée et la meilleure résolution angulaire, ce détecteur est idéal pour toutes les applications de diffraction et de diffusion des rayons X.
La superbe résolution en énergie du LYNXEYE XE-T, meilleure que 380 eV, en fait le système de détection le plus performant sur le marché en termes de filtrage de fluorescence. Avec le détecteur LYNXEYE XE-T, la fluorescence du fer excité par le rayonnement Cu est filtré à 100% avec zéro perte d’intensité. De plus il n’y a plus besoin de filtres métalliques qui causent des artefacts dans les données tels que les résidus Kß et les seuils d’absorption. En outre, les monochromateurs secondaires qui impactent sévèrement l’intensité sont obsolètes.
Le LYNXEYE XE-T est couvert par la garantie détecteur unique de Bruker : Pas de canaux défectueux au moment de la livraison. Garanti !

Les techniques de diffraction des rayons X (DRX) des poudres sont parmi les outils les plus importants pour la caractérisation des matériaux. Une grande partie des informations contenues dans un modèle de poudre est dérivée directement de l’arrangement atomique des phases présentes. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent l’exécution aisée des taches classiques de la DRX :

• Identification des phases cristallines et amorphes et détermination de la pureté de l´échantillon
• Analyse quantitative des phases cristallines et amorphes dans les mélanges multiphasés
• Analyse microstructure (taille de cristallite, micro-contrainte, désordre...)
• Contrainte résiduelle de massifs résultant du traitement thermique ou de l’usinage des composants manufacturés
• Analyse de la texture (orientation préférentielle)
• Indexation, détermination ab-initio et affinement de la structure cristalline

L’analyse des couches minces et des revêtements est basée sur les mêmes principes de DRX, mais avec un conditionnement du faisceau supplémentaire et un contrôle angulaire. Les exemples typiques incluent, sans s’y limiter, l’identification des phases, la qualité cristalline, la contrainte résiduelle, l’analyse de texture, la détermination de l’épaisseur et de la composition par rapport à l’analyse des contraintes. L’analyse des couches minces et des revêtements se concentre sur les propriétés des matériaux en couches d’épaisseur du nm au μm, allant des revêtements amorphes et polycristallins aux films épitaxiés. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent des analyses de haute qualité des films minces, notamment :

• La diffraction en incidence rasante (GID)
  
• La réflectométrie des rayons X (XRR)
  
• La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD)
  
• La cartographie du réseau réciproque (RSM)