DIFFRACTION des rayons X (DRX)

D8 ADVANCE

Le transformiste de la DRX
HerostageD8ADVANCE

Faits marquants

Le D8 ADVANCE : une solution unique pourla DRX, le PDF et le SAXS

0D-1D-2D
La qualité des données compte dans toutes les dimensions
Toujours le meilleur détecteur quelle que soit l’application : taux de comptage les plus élevés, plage dynamique et résolution en énergie
DAVINCI
Multitâche et prêt pour le futur
Conception ouverte et modularité sans restriction couplées à une convivialité maximale, commodité d’exploitation et manipulation sure. C’est le DAVINCI.DESIGN de Bruker.
≤0.01°2
Précision dans les positions des pics
Seul Bruker offre une garantie d’alignement sur l’ensemble de la gamme angulaire basée sur le matériau standard de référence NIST SRM 1976c
La garantie d’alignement unique de Bruker
Pour en savoir plus

Regardez notre vidéo sur D8 ADVANCE (XRD)

Le D8 ADVANCE est une plate-forme de diffraction des rayons X qui s'adapte facilement pour répondre à un large éventail de besoins analytiques.

D8 ADVANCE – la solution pérenne en diffraction des rayons X

DIFFRACTOMÈTRE À RAYONS X D8 ADVANCE

Le D8 ADVANCE est basé sur la plate-forme unique de la famille de diffractomètres D8 et est parfaitement conçu pour toutes les applications de diffraction et de diffusion des rayons X sur poudre, y compris:

  • Diffraction traditionnelle des rayons X sur poudre (DRX)
  • Analyse de la fonction de distribution de paires (PDF)
  • Diffusion des rayons X aux petits et grands angles (SAXS, WAXS)

Grâce à sa superbe adaptabilité, le D8 ADVANCE a la capacité de mesurer tous les types d’échantillons, des liquides aux poudres, des couches minces aux massifs, avec un seul instrument.

Peu importe si vous êtes un novice ou un expert, les changements de configuration sont rapides, faciles et infaillibles. Tout cela est rendu possible grâce au DAVINCI.DESIGN unique de Bruker : changement de la configuration de l´instrument sans outil ni alignement  pris en charge par la reconnaissance et la validation automatiques des composants en temps réel.

De plus, seul Bruker offre une garantie d’alignement basée sur le standard de référence NIST SRM1976. Aucun diffractomètre de poudre sur le marché ne dépasse la précision d’un D8 ADVANCE en termes de position des pics, d’intensité et de résolution.

Caractéristiques

Caractéristiques clés

Caractéristiques du D8 ADVANCE

Optiques TWIN / TWIN

La conception brevetée de chemin optique TWIN / TWIN simplifie grandement l’utilisation du D8 ADVANCE, permettant une grande variété d’applications et de types d’échantillons. Avec la commodité de l’utilisateur à l’esprit, le système dispose d´une commutation automatique- motorisée entre 4 géométries de faisceau différents. Sans intervention manuelle de l’utilisateur, le système est capable de passer de la focalisation Bragg-Brentano pour les poudres à la géométrie de faisceau parallèle pour les échantillons irréguliers, les revêtements et les films minces. Il convient parfaitement à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les films et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées) dans des conditions ambiantes ou non ambiantes.

Caractéristiques du D8 ADVANCE

Dynamic Beam Optimization™ (DBO)

La fonction DBO unique de Bruker établit une nouvelle référence en termes de qualité des données pour la diffraction des rayons X. La synchronisation automatique des fentes de divergence motorisée, d’un couteau anti-diffusion motorisé et de la zone active du détecteur offre une qualité de données inégalée, en particulier aux angles 2Ɵ. DBO est disponibles pour tous les membres de la famille des détecteurs LYNXEYE : SSD160-2, LYNXEYE-2 et LYNXEYE XE-T.

Caractéristiques du D8 ADVANCE

LYNXEYE XE-T

Le LYNXEYE XE-T est le fleuron de la famille des détecteurs LYNXEYE. Le LYNXEYE XE-T est le seul détecteur à dispersion en énergie sur le marché pour l’acquisition de données 0D, 1D et 2D. Adapté à toutes les longueurs d’onde (du Cr à l´Ag), avec la capacité de comptage la plus élevée et la meilleure résolution angulaire, ce détecteur est idéal pour toutes les applications de diffraction et de diffusion des rayons X.
La superbe résolution en énergie du LYNXEYE XE-T, meilleure que 380 eV, en fait le système de détection le plus performant sur le marché en termes de filtrage de fluorescence. Avec le détecteur LYNXEYE XE-T, la fluorescence du fer excité par le rayonnement Cu est filtré à 100% avec zéro perte d’intensité. De plus il n’y a plus besoin de filtres métalliques qui causent des artefacts dans les données tels que les résidus Kß et les seuils d’absorption. En outre, les monochromateurs secondaires qui impactent sévèrement l’intensité sont obsolètes.
Le LYNXEYE XE-T est couvert par la garantie détecteur unique de Bruker : Pas de canaux défectueux au moment de la livraison. Garanti !

Applications

Un diffractomètre - Toutes les applications

Applications du D8 ADVANCE

Diffraction des poudres

Les techniques de diffraction des rayons X (DRX) des poudres sont parmi les outils les plus importants pour la caractérisation des matériaux. Une grande partie des informations contenues dans un modèle de poudre est dérivée directement de l’arrangement atomique des phases présentes. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent l’exécution aisée des taches classiques de la DRX :

  • Identification des phases cristallines et amorphes et détermination de la pureté de l´échantillon
  • Analyse quantitative des phases cristallines et amorphes dans les mélanges multiphasés
  • Analyse microstructure (taille de cristallite, micro-contrainte, désordre...)
  • Contrainte résiduelle de massifs résultant du traitement thermique ou de l’usinage des composants manufacturés
  • Analyse de la texture (orientation préférentielle)
  • Indexation, détermination ab-initio et affinement de la structure cristalline
Applications du D8 ADVANCE

Analyse de la fonction de distribution de paires (PDF)

L’analyse de la fonction de distribution des paires (PDF) est une technique analytique qui fournit des informations structurales de matériaux désordonnés basés sur la diffraction ainsi que la diffusion diffuse (« diffusion totale »). Alors que les pics de Bragg fournissent des informations sur la structure cristalline moyenne d’un matériau (c.-à-d. l’ordre à longue distance), la diffusion diffuse permet la caractérisation de sa structure locale (c.-à-d. l’ordre local).
Le D8 ADVANCE et le logiciel DIFFRAC.TOPAS représentent les solutions d’analyse PDF les plus performantes sur le marché en termes de vitesse d’analyse, de qualité des données et de résultats pour l’analyse de matériaux amorphes, mal cristallisés, nanocristallins ou nanostructurés :

  • Identification des phases
  • Détermination et affinement de la structure
  • Taille et forme des nanoparticules
Applications du D8 ADVANCE

Films et couches minces

L’analyse des couches minces et des revêtements est basée sur les mêmes principes de DRX, mais avec un conditionnement du faisceau supplémentaire et un contrôle angulaire. Les exemples typiques incluent, sans s’y limiter, l’identification des phases, la qualité cristalline, la contrainte résiduelle, l’analyse de texture, la détermination de l’épaisseur et de la composition par rapport à l’analyse des contraintes. L’analyse des couches minces et des revêtements se concentre sur les propriétés des matériaux en couches d’épaisseur du nm au μm, allant des revêtements amorphes et polycristallins aux films épitaxiés. Le D8 ADVANCE et le progiciel DIFFRAC.SUITE permettent des analyses de haute qualité des films minces, notamment :

  • La diffraction en incidence rasante (GID)
  • La réflectométrie des rayons X (XRR)
  • La diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD)
  • La cartographie du réseau réciproque (RSM)

Spécifications

Spécifications du D8 ADVANCE

Propriété

Spécification

Avantage

OPTIQUE TRIO et TWIN

Sélection en 1 clic dans le logiciel entre :

Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano)

Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité

Faisceau parallèle Ka1 haute résolution

Brevets: US10429326, US6665372, US7983389

Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur

Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées)

Dynamic Beam Optimization

Synchronisation dynamique de :

Fentes de divergence motorisées

Couteau anti-diffusion motorisé

Fenêtre active du détecteur variable

Gamme angulaire 2Thêta: <1 à >150

Données pratiquement exemptes de la diffusion de l’air, de l’instrument et du porte d’échantillon

Des limites de détection nettement améliorées permettant la quantification pour les phases cristallines et des amorphes

Performances inégalées aux faibles angles 2Thêta permettant des investigations précises des argiles, des produits pharmaceutiques, des zéolites, des matériaux de mésoporeux et plus encore

LYNXEYE XE-T

Résolution énergétique : < 380 eV @ 8 KeV

Modes de détection : 0D,1D, 2D

Longueurs d’onde: Cr, Co, Cu, Mo et Ag

Brevets: EP1647840, EP1510811, US20200033275

Pas besoin de filtre Kß ou de monochromateur secondaire

Filtrage à 100% de la fluorescence du fer avec le rayonnement Cu

Jusqu’à 450 fois plus rapide que les systèmes de détection conventionnels

BRAGG2D : Collecter des données 2D avec un divergent issue d´un foyer linéaire

Garantie unique du détecteur : Pas de canaux défectueux à la livraison

EIGER2 R

Le détecteur multimode (0D/1D/2D) de dernière génération basé sur la technologie "hybrid photon counting", développé par Dectris Ltd.

Intégration transparente des données 0D, 1D et 2D collectées en mode pas, continu ou avancé

Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ

Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outil) dans le faisceau diffracté

Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution

TWIST.TUBE

Commutation facile, rapide et sans alignement entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel

Pas de déconnexion des câbles électriques ou des tuyaux d’eau ou de démontage du tube

DAVINCI.DESIGN : Détection et configuration entièrement automatiques de l’orientation du tube

Passeurs d’échantillons

FLIPSTICK: 9 échantillons

AUTOCHANGER: 90 échantillons

Opération en réflexion ET en transmission

Goniomètre du D8

Goniomètre à deux cercles avec moteurs pas à pas indépendants et encodeurs optiques

Une précision et une justesse inégalées, comme stipulées dans la garantie l’alignement unique de Bruker

Mécanisme d’entraînement sans entretien / engrenages avec lubrification à vie

Non ambiant

Température: Allant de ~-4K jusqu’à ~2500K

Pression : 10-⁴ mbar jusqu’à 100 bars

Humidité: 5% à 95% RH

Mesures dans des conditions ambiantes et non ambiantes

Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI

Accessoires

Composants pour la DRX

XRD Components

Les solutions Bruker XRD sont constituées de composants haute performance configurés pour répondre aux exigences analytiques.

La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
Toutes les catégories de composants font partie des compétences clés de Bruker, développées et fabriquées par Bruker AXS, ou en étroite collaboration avec des fournisseurs tiers.

Les composants DRX Bruker sont disponibles pour mettre à niveau les systèmes de rayons X installés afin d'améliorer leurs performances.

Logiciels

PLANIFIER.MEASURER.ANALYSER avec DIFFRAC.SUITE

DIFFRAC.SUITE Software

DIFFRAC.SUITE ™ propose une large gamme de modules logiciels pour une acquisition et une évaluation faciles des données de diffraction des rayons X sur poudre. Basé sur la technologie Microsoft.NET, DIFFRAC.SUITE offre tous les avantages de la technologie logicielle moderne pour la stabilité, la facilité d'utilisation maximale et la mise en réseau.

L'interface utilisateur entièrement personnalisable est caractérisée par un cadre d’onglets, offrant une apparence, une sensation et un fonctionnement communs. Tous les modules logiciels de mesure et d'évaluation peuvent être utilisés en tant qu'applications individuelles ou intégrés ensemble dans le cadre d’onglets de DIFFRAC.SUITE. Un réseau illimité permet l'accès et le contrôle de n'importe quel nombre de diffractomètres D2 PHASER, D8 ADVANCE, D8 DISCOVER et D8 ENDEAVOR au sein du réseau d'un client.

Logiciels de Mesure:
WIZARD – Création de méthodes
COMMANDER – Exécution de méthodes et mesure en direct
TOOLS – Interface de service

Logiciels de diffraction des poudres:
DQUANT – Analyse quantitative des phases
EVA – Identification des phases et analyse quantitative
TOPAS – Analyse de profile, analyse quantitative, analyse structurale

Logiciels de recherche de matériaux:
SAXS – Logiciel pour la diffusion aux petits angles
XRR – Analyse complète de réflectométrie
TEXTURE – L’analyse de texture devient facile
LEPTOS – Analyse de couche mince / Evaluation des contraintes résiduelles

Webinaires

Support

Service et support

Nous fournissons :

  •  Assistance dépannage par des professionnels hautement qualifiés pour isoler et résoudre les problèmes matériels et logiciels
  • Service de support à distance (interface Web) pour le diagnostic des pannes et le support applicatif
  • Support à distance - un ingénieur virtuel à vos côtés (vidéo)
  • Maintenance planifiée, selon vos besoins
  • Service de réparation et de maintenance sur site
  • Disponibilité des pièces de rechange généralement pendant la nuit ou en quelques jours ouvrables dans le monde entier
  • Services de conformité pour la qualification de l'installation, la qualification opérationnelle / la vérification des performances
  • Planification du site et relocalisation des instruments
  • Trouvez votre prochaine formation

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