Profilomètre optique 3D

ContourX-100

Métrologie de rugosité simple et abordable 

Faits marquants

ContourX-100

Le profilomètre optique ContourX-100 établit une nouvelle référence en matière de métrologie des surfaces sans contact, précise et reproductible, à un prix défiant toute concurrence. Ce système à faible encombrement offre des capacités de mesure 2D/3D à haute résolution sans compromis dans un ensemble rationalisé qui intègre des décennies d'innovations exclusives de Bruker en matière d'interférométrie en lumière blanche (WLI). Le ContourX-100 intègre des améliorations de nouvelle génération tel que : une nouvelle caméra de 5 MP, une platine mise à jour pour des capacités d'assemblage d'images plus importantes, ainsi qu'un nouveau mode de mesure, USI, pour encore plus de commodité et de flexibilité pour les surfaces usinées de précision, les films épais et les applications de tribologie. Vous ne trouverez pas de système d'une meilleure valeur que le ContourX-100.

Top de l'Industrie
résolution Z
Offre des mesures constantes et précises, indépendamment du grossissement.
Inégalée
valeur métrologique
Une conception rationalisée sans compromettre les capacités de mesure.
Facile à Utiliser
interface logiciel
Fournit un accès intuitif à une vaste bibliothèque de filtres et d'analyses pré programmé.

Caractéristiques

Caractéristiques

Métrologie inégalée

WLI offre une résolution verticale constante et ultime pour tous les objectifs.

Le profileur ContourX-100 est l'aboutissement de plus de quatre décennies d'innovation optique exclusive, et de leadership industriel en matière de métrologie, de caractérisation et d'imagerie des surfaces sans contact. Le système utilise la technologie d'imagerie 3D WLI, pour des analyses multiples en une seule acquisition. Le ContourX-100 est robuste dans toutes les situations de surface, de 0.05 % à 100 % de réflectivité.

Valeur et analyse inégalées

ContourX-100: platine manuelle.

Avec des milliers d'analyses personnalisées ainsi que les interfaces utilisateur simples et puissantes VisionXpress™ et Vision64® de Bruker, la platine ContourX-100 est optimisée pour la productivité, tant dans les laboratoires que dans les usines. Le matériel et le logiciel s'associent pour offrir un accès simplifié à des performances optiques haut débit de premier ordre, surclassant complètement les technologies de métrologie comparables.

Applications

Applications

Métrologie indépendante du type de surface avec des solutions ciblées pour vos applications

Ingénierie de Précision

Contrôlez la texture de surface et les dimensions géométriques des pièces usinées et gardez les dans des limites de spécifications strictes. Nos systèmes de mesure fournissent un retour d'information et des rapports pour la surveillance, le suivi et l'évaluation des procédés en conformité avec les normes GD&T.

MEMS et Capteurs

Réalisez des mesures rapides et extrêmement répétables de profondeur de gravure, d'épaisseur de film, de hauteur de marche et de rugosité de surface, ainsi que de la métrologie avancée des dimensions critiques des MEMS (dont les MEMS optiques). La technique peut caractériser les dispositifs tout au long du processus de fabrication, y inclus en cas d’encapsulage avec emballage transparent.

Orthopédie/Ophtalmologie

Obtenez des mesures précises et répétables des matériaux et composants des implants tout au long du cycle de vie du produit. Nos profileurs optiques WLI prennent en charge les analyses de R&D et de Contrôle Qualité, pour des applications allant de la caractérisation des paramètres de surface des lentilles et des moules d'injection à la vérification de la finition de surface et de l'usure des dispositifs médicaux.

Tribologie

Mesurez, analysez et contrôlez les effets du frottement, de l'usure, de la lubrification et de la corrosion sur les performances et la durée de vie des matériaux, des pièces et des composants. Déterminez les paramètres d'usure quantitatifs et effectuez des inspections rapides de type "pass/fail" sur tout type de surface faiblement ou fortement réfléchissantes, diffusantes ou brillantes, transparentes, lisses ou rugueuses.

Semi-Conducteurs

Améliorez le rendement et réduisez les coûts tout au long du cycle de fabrication grâce à des systèmes de métrologie automatisés, pleine plaque et sans contact. Effectuez des inspections de la planéité des puces après le polissage mécano-chimique (CMP), l'identification et l'analyse de la hauteur des « bump », de leur coplanarité et défauts, et mesurez les dimensions critiques des structures des composants.

Optique

Analysez les défauts et optimisez les procédés de polissage et de finition grâce à des mesures de rugosité sub-nanométrique précises et répétables. Nos systèmes de métrologie sans contact permettent de respecter des spécifications et des normes ISO de plus en plus strictes pour des échantillons allant des petites optiques asphériques ou à forme libre aux composants optiques à géométrie complexe, en passant par les réseaux de diffraction et les microlentilles.

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