3D 광학 프로파일러

컨투어X-100

거칠기 계측을 위한 최신식의 경제적인 benchtop
ContourX-100

하이라이트

ContourX-100

ContourX-100 광학 현미경은 Entry 설비로 동급 최고의 성능으로 정확하고 재현성이 월등한 비접촉 표면 측정법을 위한 새로운 기준을 제시합니다. 컴팩트한 설비 사이즈의 시스템은 수십 년 간의 브루커 백색 간섭계(WLI) 혁신을 통합한 최신 패키지로 2D/3D 고해상도 측정 기능을 제공합니다. 차세대 향상된 기능에는 새로운 5MP 카메라와 보다 큰 스테이지에 더불어 정밀한 가공 표면, 투명 막 코팅 및 트라이볼로지 응용에 대한 훨씬 더 큰 편리성과 유연성을 제공하는 새로운 측정 모드인 USI를 포함하고 있습니다.

업계 최고
Z 해상도
배율에 관계없이 일정하고 정밀한 측정 제공
타의 추종 불허
계측 값
성능 저하 없이 간소화된 설계 제공
사용자 친화적
소프트웨어 인터페이스
사전 프로그래밍된 필터 및 분석의 광범위한 라이브러리에 직관적인 접근 제공

특징

기능

비교할 수 없는 계측

WLI는 모든 물체에 대해 일정한 최고의 수직 해상도를 제공합니다.

ContourX-100 프로파일러는 비접촉 표면 계측, 특성화 및 이미징 분야에서 40년 이상 쌓아온 독점적인 광학 혁신 및 업계 리더십의 정점입니다. 이 시스템은 단일 획득에서 다중 분석을 위해 3D WLI 및 2D 이미징 기술을 활용합니다. ContourX-100은 모든 표면 상황에서 0.05%부터 100% 반사도까지 견고합니다.

타의 추종을 불허하는 가치 및 분석

ContourX-100 수동 스테이지

수천 개의 맞춤형 분석과 브루커의 간편하고 강력한 VisionXpress™ 및 Vision64® 사용자 인터페이스를 갖춘 ContourX-100 benchtop은 실험실과 작업 현장 모두에서 생산성에 최적화되어 있습니다. 하드웨어와 소프트웨어가 결합되어 최고 수준의 고 처리량 광학 성능에 대한 간소화된 액세스를 제공하여 유사한 계측 기술을 완전히 능가합니다.

부속품

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